日時

2025年2月4日（火）14:00-15:30

場所

WEBミーティング（ZOOM）

主催

マテリアル先端リサーチインフラ、電子顕微鏡技術情報交流会

共催

大学連携研究設備ネットワーク、日本電子株式会社

定員

300名（定員となり次第、締め切らせていただきます）

参加費

無料

参加申し込み

Webフォーム　https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSfsUl-EaBXW0kUjVVME1OMPD_Ejzno7ztq3H027ZWyLJWRwjg/viewform?usp=header

申込締切：1月30日（木）

概要

透過電子顕微鏡の観察対象は材料系、生物系等多岐に及びます。本研修会では、基礎的な原理ならびに装置の調整方法から観察試料に適した前処理方法等を解説していただきます。

詳細

【講師】日本電子株式会社　EM事業ユニット　EMアプリケーション部　2G　青木 遥　氏

【参加対象者】大学・高専等教育研究機関に所属する方（教職員・学生）

【プログラム】14:00～15:30　「透過電子顕微鏡の基礎と試料前処理方法のご紹介」

• 研修会チラシ [PDF形式／271.79KB]

お問い合わせ

自然科学研究機構 分子科学研究所
大学連携研究設備ネットワーク事務局（分子科学研究所　機器センター）
〒444-8585　愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号：0564-55-7437
E-mail：eqnet-office(at)ims.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。

ホームページ
[URL] https://study.eqnet-portal.jp/archives/session/2024-026
※最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。