技術スタッフ表彰

令和5年度 技術スタッフ表彰

【技術支援貢献賞】
「クライオ透過電子顕微鏡を主とした技術支援」
木村 鮎美(東京大学)

「収束イオンビーム装置を用いたTEM観察用薄膜試料作製および微細構造解析支援」
阿内 三成(九州大学)

「電子エネルギー損失分光法と多変量解析を用いた異種材料界面近傍の微視的な構造の観察」
東嶺 孝一(北陸先端科学技術大学院大学)

「NMR、熱分析装置等による技術支援」
長尾 春代(自然科学研究機構 分子科学研究所)

【若手技術奨励賞】
「多分野にわたるサンプルの試料準備から観察まで微細構造解析支援」
横平 綾子(北海道大学)

 

nano tech 2024 展示ポスター

2024年1月31日 東京ビッグサイトで開催された第23回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議に於いて、マテリアル先端リサーチインフラ 令和5年度「技術スタッフ表彰」の発表と表彰が行われた。

(1) クライオ透過電子顕微鏡を主とした技術支援
(2) 収束イオンビーム装置を用いたTEM観察用薄膜試料作製および微細構造解析支援
(3) 電子エネルギー損失分光法と多変量解析を用いた異種材料界面近傍の微視的な構造の観察
(4) NMR、熱分析装置等による技術支援
(5) 多分野にわたるサンプルの試料準備から観察まで微細構造解析支援

 

※画像をクリックすると、展示ポスターPDFがダウンロードできます。

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Webマガジン

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  • 【更新日】2024/09/09
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