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高輝度放射光XAFSシステム

設備ID AE-003
分類 状態分析(各種分光法(元素分析・振動モード・電子状態)を含む) > エックス線吸収端構造解析 (nearedgeを含む)
装置名称 高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station)
設置機関 日本原子力研究開発機構(JAEA)
設置場所 SPring-8 BL22XU
メーカー名 カスタム (Home-made)
型番 なし
キーワード XAFS、XANES、放射光、構造解析、状態解析、抽出剤、金属回収、都市鉱山、1Fデブリ、福島環境回復、高輝度XAFS、地層処分、ガラス固化体
仕様・特徴 試料中の特定元素の原子価や局所構造を決定
・エネルギー範囲:4~72keV
・測定方法:通常の透過法/微量元素用の蛍光法、通常のStepScan/高速計測対応(QuickScan)
・試料:少量核燃物質、国際規制物資、RI・アクチノイド試料
・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能
・クライオスタットによる低温測定
・電気炉による高温測定
    高輝度放射光XAFSシステム
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