表面増強赤外分光装置
| 設備ID | NI-010 |
|---|---|
| 分類 | 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > 赤外分光 |
| 装置名称 | 表面増強赤外分光装置 (Surface-Enhanced Infrared Spectroscope) |
| 設置機関 | 名古屋工業大学 |
| 設置場所 | 名古屋工業大学御器所キャンパス |
| メーカー名 | 日本分光 (JASCO) |
| 型番 | FT-IR4200ST |
| キーワード | 表面反応追跡、中間体検出 赤外分光/ Infrared spectroscopy |
| 仕様・特徴 | 測定範囲：4,000～1,000 cm–1 in situ測定（電気化学） |
