原子分解能分析電子顕微鏡
設備ID | SH-003 |
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分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
装置名称 | 原子分解能分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope ) |
設置機関 | 信州大学 |
設置場所 | 信州大学 長野(工学)キャンパス 国際科学イノベーションセンター |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | JEM-ARM200F NEOARM |
キーワード | 剝片化試料 球面収差補正 ナノ材料一般 原子像解析 組成分析 |
仕様・特徴 | 分解能STEM-HAADF 0.078nm(200kV) 加速電圧 30、80、200kV 自動収差補正システム |