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原子分解能走査透過型電子顕微鏡

設備ID JI-008
分類 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡
装置名称 原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)
設置機関 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
設置場所 JAISTナノマテリアルテクノロジーセンター
メーカー名 日本電子 (JEOL)
型番 JEM-ARM200F
キーワード 構造観察
原子分解能
元素分析
電子回折
透過型電子顕微鏡
走査型透過電子顕微鏡
仕様・特徴 加速電圧:200 kV
電子銃 ショットキー型電界放出銃
分解能:
0.08 nm(走査透過像)
0.19 nm(透過顕微鏡 粒子像)
0.10 nm(透過顕微鏡 格子像)
EDS、EELSによる組成分析機能付
照射系収差補正装置:組み込み
UHR仕様
    原子分解能走査透過型電子顕微鏡
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