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電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)

設備ID CT-011
分類 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡
装置名称 電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM) (Field emission scanning electron microscope (FE-SEM))
設置機関 公立千歳科学技術大学
設置場所 F109
メーカー名 日本電子 (JEOL)
型番 JSM-7800F
キーワード 試料表面の微細構造観察
仕様・特徴 ・加速電圧:0.01~30 kV
・倍率: 25~1,000,000倍
・装備オプション:EDS、STEM、BED、USD、低真空システム
    電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
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