走査型プローブ顕微鏡 （SPM)
| 設備ID | CT-009 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査型プローブ顕微鏡 （SPM) (Scanning probe microscope (SPM)) |
| 設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
| 設置場所 | D202 |
| メーカー名 | ブルカー (Bruker) |
| 型番 | MultiMode 8J |
| キーワード | 微小領域の表面形状や物性の測定 |
| 仕様・特徴 | ・大気中、液中イメージングが可能 ・ナノ機械特性（弾性率、吸着力）、ナノ電気特性（表面電位、導電性）の測定が可能 |
