走査型プローブ顕微鏡 (SPM)
設備ID | CT-009 |
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分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
装置名称 | 走査型プローブ顕微鏡 (SPM) (Scanning probe microscope (SPM)) |
設置機関 | 公立千歳科学技術大学 |
設置場所 | D202 |
メーカー名 | ブルカー (Bruker) |
型番 | MultiMode 8J |
キーワード | 微小領域の表面形状や物性の測定 |
仕様・特徴 | ・大気中、液中イメージングが可能 ・ナノ機械特性(弾性率、吸着力)、ナノ電気特性(表面電位、導電性)の測定が可能 |