200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2)
最終更新日:2024年12月5日
設備ID | NM-504 |
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分類 |
透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
設備名称 | 200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2) (200kV field emission transmission electron microscope) |
設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
設置場所 | NIMS千現地区 精密計測実験棟117号室 |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | JEM-2100F2 |
キーワード | 形態観察 原子構造解析 組成分析 電子線トモグラフィー |
仕様・特徴 | ・ショットキーFEG ・加速電圧: 100, 120, 200 kV ・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-504 |