共用設備検索

200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2)

最終更新日:2024年12月5日
設備ID NM-504
分類 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡
回折・散乱 > 電子回折
設備名称 200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2) (200kV field emission transmission electron microscope)
設置機関 物質・材料研究機構 (NIMS)
設置場所 NIMS千現地区 精密計測実験棟117号室
メーカー名 日本電子 (JEOL)
型番 JEM-2100F2
キーワード 形態観察
原子構造解析
組成分析
電子線トモグラフィー
仕様・特徴 ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
設備状況 稼働中
本設備の利用事例 https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-504
    200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2)
    200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2)
印刷する
PAGE TOP
スマートフォン用ページで見る