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高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム

設備ID NU-102
分類 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡
装置名称 高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム (Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope (ARM Cold))
設置機関 名古屋大学
設置場所 超高圧電子顕微鏡施設
メーカー名 日本電子 (JEOL)
型番 JEM-ARM200F Cold
キーワード 結晶構造解析
組成分布観察
ナノ材料
電子エネルギー損失分光
エネルギー分散型X線分光
仕様・特徴 加速電圧:80, 200kV
TEM, STEM, EELS, EDS
TEM点分解能:110pm
STEM-HAADF分解能:78pm
    高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
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