高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
設備ID | NU-102 |
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分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
装置名称 | 高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム (Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope (ARM Cold)) |
設置機関 | 名古屋大学 |
設置場所 | 超高圧電子顕微鏡施設 |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | JEM-ARM200F Cold |
キーワード | 結晶構造解析 組成分布観察 ナノ材料 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 |
仕様・特徴 | 加速電圧:80, 200kV TEM, STEM, EELS, EDS TEM点分解能:110pm STEM-HAADF分解能:78pm |