広空間・高分解能分析電子顕微鏡
| 設備ID | NM-301 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 装置名称 | 広空間・高分解能分析電子顕微鏡 (Analytical transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS 千現地区 先進構造材料研究棟116室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM300F |
| キーワード | 2Dおよび3D組織観察 結晶構造解析および結晶方位測定 組成分布観察 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 |
| 仕様・特徴 | 金属・セラミックス試料の組成，化学状態，結晶方位等の局所分析およびマップ取得が可能． ・加速電圧：300kV, 200kV, 120kV, 80kV ・球面収差補正(イメージおよびプローブのダブルコレクタ) ・大口径EDS検出器(158mm2 x 2本) ・エネルギーフィルター(Gatan ContinuumER) ・プリセッション電子回折を用いた結晶方位測定システム(ASTAR) |
