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高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡

設備ID UT-008
分類 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡
装置名称 高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡 (Top-entry Transmission electron microscope)
設置機関 東京大学
設置場所 東京大学浅野キャンパス工学部9号館
メーカー名 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番 JEM-2000EX
キーワード 高分解能、透過型電子顕微鏡、ナノ材料
仕様・特徴 □ 主な仕様
(1)本体
加速電圧 : 80、100、120、160、200kV
電子線源 : 単結晶LaB6
分解能 : 0.1nm(格子像)
試料最大傾斜角 : ±10°
排気方式 : 油拡散ポンプ
(2)画像記録 シートフィルム
    高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡
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