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原子分解能元素マッピング構造解析装置

設備ID UT-005
分類 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 >
装置名称 原子分解能元素マッピング構造解析装置 ( Atomic resolution element mapping structure analyzer)
設置機関 東京大学
設置場所 東京大学浅野キャンパス工学部9号館
メーカー名 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番 JEM-ARM200F Thermal FE STEM
キーワード 結晶構造解析
組成分布観察
ナノ材料
電子エネルギー損失分光
エネルギー分散型X線分光
仕様・特徴 □ 主な仕様
・ 分解能:STEM明視野格子像 0.136nm
STEM暗視野格子像 0.082nm
TEM格子像 0.10nm
TEM粒子像 0.19nm
・ 倍率: STEM像 200~150,000,000倍
TEM像 50~2,000,000倍
・ 収差補正装置:照射系球面収差補正装置 組み込み
・ 検出器:エネルギー分散形X線分析装置 (SDD)、電子線エネルギー損失分光器(EELS)、
軽元素対応像検出器、CCD検出器(2k×2k,4k×2k)
    原子分解能元素マッピング構造解析装置
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