走査電子顕微鏡
| 設備ID | NI-019 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope) |
| 設置機関 | 名古屋工業大学 |
| 設置場所 | 名古屋工業大学御器所キャンパス |
| メーカー名 | 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Science Corporation) |
| 型番 | S-4700 |
| キーワード | ナノ材料、金属、複合材料、組織観察、組成分析 走査型電子顕微鏡/ Scanning electron microscopy |
| 仕様・特徴 | FE-SEM、100倍～500K倍観察、EDX分析装置付属 |
