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X線回折装置(XRD) (X-ray diffractometer (XRD))

設備ID
CT-033
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
X線回折装置(XRD)
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
D8 DISCOVER
仕様・特徴
・1次元粉末X線測定モジュール
・2次元広角/小角X線測定モジュール
・超小角(USAXS)測定モジュール
・GI-WAXD/SAXS測定モジュール
・高温試料チャンバー(室温~1100℃)

紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR Spectrometer)

設備ID
CT-001
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
紫外可視近赤外分光光度計
メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
V-670DS
仕様・特徴
・測定範囲: 190~3,200 nm

フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)/赤外顕微鏡 (Fourier transform infrared spectrometer (FTIR)/Micro FTIR spectrometer)

設備ID
CT-002
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)/赤外顕微鏡
メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
FT/IR-6600IRT-5200
仕様・特徴
FT/IR-6600, IRT-5200
・測定範囲: 7,800~350 cm-1
IRT-5200
・分解能:2 cm-1

ラマンイメージング (Raman imaging microscope)

設備ID
CT-003
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
ラマンイメージング
メーカー名
レニショー (Renishaw)
型番
inVia
仕様・特徴
・レーザー波長:325 nm、532 nm、785 nm
・二次元・三次元マッピング機能(0.1 μm位置再現性)
・波数域:100~4,000 cm-1
・温度調節ステージ

顕微ラマン分光 (Raman microscope)

設備ID
CT-004
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
顕微ラマン分光
メーカー名
フォトンデザイン (PHOTON Design)
型番
RSM-310
仕様・特徴
・レーザー波長:1,064 nm
・マッピング機能あり

核磁気共鳴装置(NMR) (Nuclear magnetic resonance spectrometer (NMR))

設備ID
CT-005
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
核磁気共鳴装置(NMR)
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
AVANCE NEO 400
仕様・特徴
・1H共鳴周波数:400 MHz
・二次元、固体(CP/MAS)
・多核(15N、19F、23Na、27Al、31P、77Se、113Cd、129Xe、195Pt 等)測定可能

円二色性分散計 (CD) (Circular dichroism spectrometer)

設備ID
CT-006
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
円二色性分散計 (CD)
メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
J-820
仕様・特徴
・CD/蛍光同時測定
・測定波長範囲:163~1,100 nm
・CD分解能:0.0005 mdeg
・ペルチェ式恒温セルホルダ付

3D測定レーザ顕微鏡 (3D Measuring laser microscope)

設備ID
CT-007
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
3D測定レーザ顕微鏡
メーカー名
オリンパス (Olympus)
型番
LEXT OLS4000
仕様・特徴
・レーザ波長: 405 nm 半導体レーザ
・総合倍率: x 108~17,280

蛍光顕微鏡 (Fluorescence microscope)

設備ID
CT-008
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
蛍光顕微鏡
メーカー名
オリンパス (Olympus)
型番
BX51DP73
仕様・特徴
・落射型
・位相差観察や微分干渉観察との同時併用観察が可能

走査型プローブ顕微鏡 (SPM) (Scanning probe microscope (SPM))

設備ID
CT-009
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
MultiMode 8J
仕様・特徴
・大気中、液中イメージングが可能
・ナノ機械特性(弾性率、吸着力)、ナノ電気特性(表面電位、導電性)の測定が可能
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