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電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscope )

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-1300NEF
設備画像
電子分光型超高圧分析電子顕微鏡
設置機関
九州大学
仕様・特徴
オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV

収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
設備画像
収差補正走査/透過電子顕微鏡
設置機関
九州大学
仕様・特徴
照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析

マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)

メーカー名
日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
型番
Zeiss-ULTRA55 + SII-TES
設備画像
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置
設置機関
九州大学
仕様・特徴
超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析

広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200CF
設備画像
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡
設置機関
九州大学
仕様・特徴
照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧:30, 60, 80, 120, 200kV

デュアルビームFIB-SEM加工装置 (Dual beam FIB-SEM)

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
型番
FEI Quanta 200 3D
設備画像
デュアルビームFIB-SEM加工装置
設置機関
九州大学
仕様・特徴
観察+FIB加工、マイクロサンプリング

直交型FIB-SEM (3D analytical FIB-SEM)

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech Corporation)
型番
MI4000L
設備画像
直交型FIB-SEM
設置機関
九州大学
仕様・特徴
直交型FIB-SEM、3次元組織解析

収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
設備画像
収差補正高分解能電子顕微鏡
設置機関
九州大学
仕様・特徴
走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析

3次元観察用電子分光型電子顕微鏡 (300 kV analytical electron microscope )

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-3200FSK
設備画像
3次元観察用電子分光型電子顕微鏡
設置機関
九州大学
仕様・特徴
オメガ型エネルギーフィルター搭載、最高加速電圧300kV

ハイコントラスト補助電子顕微鏡 (Conventional high contrast electron microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100HCKM
設備画像
ハイコントラスト補助電子顕微鏡
設置機関
九州大学
仕様・特徴
組織観察/電子解析図形収集の汎用機、加速電圧:100,120,200kV

三次元原子分解能透過電子顕微鏡 (3D analyltical STEM/TEM)

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
型番
Titan G2 60-300
設備画像
三次元原子分解能透過電子顕微鏡
設置機関
九州大学
仕様・特徴
電子銃モノクロメータ、トモグラフィー
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