共用設備検索結果
汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)
- 設備ID
- KU-019
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機
マイクロカロリメーター (Micro calorimeter)
- 設備ID
- KU-519
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- MicroCal (MicroCal)
- 型番
- PEAQ-ITC
- 仕様・特徴
- 【PEAQ-ITC】
・溶液中の分子間相互作用をダイレクトに測定
・サンプルのラベル化、および固定化が不要
・分子量の制限なし
・解離定数（KD）と熱力学的パラメータ
（ΔG,ΔH,ΔS）の取得
・必要サンプル容量280 μL
・セル容積200 μL
・滴定シリンジ容量40 μL
・測定温度範囲 2～80℃
CCDマルチICP発光分光分析装置 (ICP-OES Analyzer SPECTRO ARCOS)
- 設備ID
- KU-518
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- SPECTRO (SPECTRO)
- 型番
- ARCOS EOP 130
- 仕様・特徴
- タイプ 多元素同時（マルチ）：ポリクロメーター
多元素同時（マルチ）：ポリクロメーター
マウント方式 トリプル・パッシェンルンゲ
波長範囲 130～770nm
UVシステム
（200nm以下の測定システム） UV－PLUS（連続ガスパージ不要）
クリーンカートリッジ交換：2年に1回
焦点距離 750mm
回折格子 3,600本/mm 2式 1,800本/mm 1式
次光 1次光（全波長範囲）
検出器 リニアCCDアレイ
電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscope )
- 設備ID
- KU-001
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1300NEF
- 仕様・特徴
- オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV、電子線トモグラフィ、レーザーパルス光照射、その場観察、冷却・加熱引張試験
収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )
- 設備ID
- KU-002
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)
- 設備ID
- KU-003
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
- 型番
- Zeiss-ULTRA55 ＋ SII-TES
- 仕様・特徴
- 超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析(10eV@6KeV)、SDD(150mm2)検出器による組成・状態分析
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope)
- 設備ID
- KU-004
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200CF
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS（100mm2 SDD２機搭載 立体角1.7sr)/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧：30, 60, 80, 120, 200ｋV、その場観察、 加熱・冷却・電圧印加・ガス雰囲気
デュアルビームFIB-SEM加工装置 (Dual beam FIB-SEM)
- 設備ID
- KU-005
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- FEI Quanta 200 3D
- 仕様・特徴
- 観察+FIB加工、マイクロサンプリング
直交型FIB-SEM (3D analytical FIB-SEM)
- 設備ID
- KU-006
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech Corporation)
- 型番
- MI4000L
- 仕様・特徴
- 直交型FIB-SEM、3次元組織解析(3D-SEM/EDS)、EDS(150mm2 SDD検出器)による組成・状態分析
収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )
- 設備ID
- KU-007
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析