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共用設備検索結果
"名古屋大学"で検索した結果 89件
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- 設備ID
- NU-103
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F/HK
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80, 200kV
TEM, STEM, EDS
TEM点分解能：0.14nm
STEM－HAADF分解能：1nm
- 設備ID
- NU-104
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- MI4000L
- 仕様・特徴
- FIB-SEM 直交配置
FIB, SEM, STEM, Ar Gun, EDS
FIB, SEM 最大加速電圧：30kV
- 設備ID
- NU-105
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- ETHOS NX5000
- 仕様・特徴
- FIB-SEM
FIB, SEM, STEM, Ar Gun, EDS
FIB, SEM 最大加速電圧：30kV
- 設備ID
- NU-106
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- ニューメタルズエンドケミカルス E.A. Fischione Instruments TECNOORG LINDA製 ライカマイクロシステムズ 日本電子 メイワフォーシス 日本電子 メイワフォーシス他 ()
- 型番
- Model1040 Gatan Model IV5 Leica EM UC7 IB-09020CP DWS3242 JCM-6000Plus Neoc-Pro/P
- 仕様・特徴
- TEM/STEM/SEM観察のための試料作製に関する装置群：
NanoMill PIPSⅡ GentlMill クライオミクロトーム クロスセクションポリッシャー ダイヤモンドワイヤーソー 卓上SEM コータ類
- 設備ID
- NU-201
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日新電機 (Nissin Electric)
- 型番
- NH-20SR-WMH
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：5-200kV
・注入電流1 µA～100 µA
- 設備ID
- NU-202
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- AG Associates (AG Associates)
- 型番
- Heatpulse 610
- 仕様・特徴
- ・温度範囲：400～1200℃
・昇温速度：200℃/sec
- 設備ID
- NU-204
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker AXS (Bruker AXS)
- 型番
- Dimension3100
- 仕様・特徴
- ・スキャン領域：XY方向 約90μm，Z方向 約6μm
・試料サイズ：最大150 mmφ－12 mmT
・測定モード AFM，MFM，EFM，LFM，表面電位顕微鏡，電流像
- 設備ID
- NU-205
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (SHIMADZU)
- 型番
- HSR-522
- 仕様・特徴
- ・4インチカソード3本
・RF電源500 W 2台
・逆スパッタ機構
・基盤回転
・シャッター開閉機構による多層膜成長可能
- 設備ID
- NU-206
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JBX6300FS
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：25/50/100kV
・最小ビーム径：2nm
・ビーム電流：100pA-2nA
・重ね合わせ精度：±9nm
・最大試料サイズ：4inchφ
- 設備ID
- NU-207
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- VG (VG)
- 型番
- ESCALab250
- 仕様・特徴
- ・Mg/Alツインアノード
・AlモノクロX線源
・Arスパッタ銃
・角度分解測定用マニュピレータ
・最大試料サイズ：20mmφ
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