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蛍光分光光度計 (Fluorescence Spectrometer)

メーカー名
JASCO社 (JASCO)
型番
FP-6500
設備画像
蛍光分光光度計
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・計測範囲:220 nm~750 nm
・10mmセル,ミクロセル使用可
・分解能:1 nm(励起・蛍光測定)
・ミクロセルホルダー装備 ・ETC-273型水冷ペルチェ式恒温セルホルダ装備

吸収分光光度計 (UV-VIS Spectrophotometer)

メーカー名
Shimadzu社 (Shimadzu)
型番
UV-1800
設備画像
吸収分光光度計
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・190 nm~1100 nmまでの分光分析が可能
・1 cmセル
・吸光度:-4~4 Absで測定可能

動的光散乱(DLS) (Dynamic Light Scattering Analyzer (DLS))

メーカー名
Malvern社 (Malvern)
型番
Zetasizer Nano ZS
設備画像
動的光散乱(DLS)
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定
・測定可能粒径:0.6nm-6μm、ゼータ電位:5nm-10μm
・分子量:1000-2×107Da
・試料濃度:<10nm : 0.5g/l、10nm-100nm : 0.1mg/l、100nm-1μm : 0.01g/l、>1μm : 0.1g/l
・ゼータ電位:-200~200mV
・光学系:レーザードップラー法

接触角計 (Contact Angle Meter)

メーカー名
協和界面科学社 (Kyowa Interface Science)
型番
DM-501
設備画像
接触角計
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・最大試料寸法:150(W)×150(D)×35(T)mm・最大試料重量:400g
・使用環境温度:10~35℃
・カメラ・ディスペンサ上下可動範囲:(ステージ表面より)0mm~+35mm
・自動解析機能(解析手法:液滴法/拡張収縮法,解析方法:θ/2法/真円フィッティング法/楕円フィッティング法/接線法)
・オートディスペンサ搭載(自動液滴作成)
・経時変化測定可能(最大60 fps)

超解像顕微鏡群 (Super-resolution Microscope)

メーカー名
Leica社 Carl Zeiss社 (Leica Carl Zeiss)
型番
TCS STED CW Elyra PALM system
設備画像
超解像顕微鏡群
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
TCS STED CW ・励起光源:458nm、476nm, 488nm, 496nm,514nm,543nm,633nm STEDレーザー 593nm、水銀ランプ(目視観察時のみ)・対物レンズ:10x20x40x63x100 (STED用x63x100)・STED 分解能70nm・共焦点、Multi Photonモード搭載 Elyra PALM system ・励起光源:405nm, 488nm, 561nm, 640nm・対物レンズ:αPlanApochromat 100× Oil・検出器:EM-CCD ・手法:PALM ・分解能:約20nm、最大撮影範囲:51µm×51µm

蛍光顕微鏡電気泳動システム (Fluorescence Microscopic Electrophoresis System Fluorescence Microscope with Electrophoresis system)

メーカー名
Nikon社 (Nikon)
型番
TE300
設備画像
蛍光顕微鏡電気泳動システム
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・印加可能電圧 -750~750V
・励起光源 水銀ランプ、 488nmレーザー
・対物レンズ:10x40x60x100xTIRF
・EBCCDカメラ

全反射蛍光顕微鏡 (Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy)

メーカー名
Olympus社 (Olympus)
型番
IX71
設備画像
全反射蛍光顕微鏡
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・エバネッセント場での蛍光観察可能
・励起光源 647 nm、514 nm、488nm、457nmレーザー
・対物レンズ:10x40x63x100xTIRF
・EMCCDカメラ

MALDI TOF型質量分析装置 (Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-flight Mass Spectrometer (MALDI-TOFMS))

メーカー名
Bruker社 (Bruker)
型番
MALDI TOF MS autoflex max
設備画像
MALDI TOF型質量分析装置
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
Resolution : ≥ 26,000 for Somatostatin 28 (m/z 3,147.47)FWHM
Mass range : Up to 300,000 m/z
Laser type : BRUKER smartbeam™-II laser, 355 nm Wavelength
Linear TOF , Reflector TOF , TOF/TOF-Method , High-energy CID-Method

微小単結晶X線構造解析装置 (Single crystal X-ray diffractometer)

メーカー名
Rigaku(株) (Rigaku)
型番
VariMax
設備画像
微小単結晶X線構造解析装置
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・分解能可変X線集光ミラー搭載
・輝度:31kW/mm2
・電動カメラ長可変機構(25 - 110mm)
・CCD検出器(70mm x 70mm)
・Mo線源
・試料吹きつけ冷却装置(-180℃~室温)

粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布) (Particle Size & Zeta-potential Analyzer)

メーカー名
大塚電子(株) (Otsuka Electronics)
型番
ELSZ-2
設備画像
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布)
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・測定濃度範囲 :0.001 % ~ 10 %
・ゼータ電位 :-200 ~ 200 mV
・電気移動度 :-20×10-4~20×10-4cm2/V・s
・粒子径 :0.6 nm ~ 7000 nm
・温度 :10~90 ℃
・測定可能サンプル:微粒子分散液
・平板試料用セル(オプション)を用いた平板
・フィルム状サンプル測定にも対応しています。
・pHタイトレーター装備
・光学系:レーザードップラー法

低誘電率セル購入済み
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