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X線粉末回折装置 (X-ray Diffractometer (Powder Diffraction))

設備ID
NU-002
設置機関
名古屋大学
設備画像
X線粉末回折装置
メーカー名
リガク社 (Rigaku)
型番
Smart Lab 3K1d/2dDSC
仕様・特徴
・最大出力:9kW
・検出器:シンチレーションカウンター、半導体1次元検出器、二次元検出器
・Cuターゲット
・試料水平配置

蛍光X線分析装置 (X-ray Fluorescence Analyzer)

設備ID
NU-003
設置機関
名古屋大学
設備画像
蛍光X線分析装置
メーカー名
リガク社 (Rigaku)
型番
NEX CG(EXDL 300)
仕様・特徴
・・エネルギー分散型 ・最大出力:50W
・二次ターゲット:Cu、Mo、Al、RX-9、Si
・検出器:Silicon Drift Detector ・試料サイズ:φ20

走査型電子顕微鏡(SEM) (Scanning Electron Microscope (SEM))

設備ID
NU-004
設置機関
名古屋大学
設備画像
走査型電子顕微鏡(SEM)
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JSM-7500F
仕様・特徴
・電界放出形電子銃 ・二次電子分解能:1.0nm(15kV)、1.4nm(1kV) ・倍率:×25~1,000,000 加速電圧:0.1~30kV ・ジェントルビーム
・オプション:リトラクタブル反射電子検出器(RBEI)、エネルギー分散形X線分析装置(EDS)

キラリティー分光装置群 (Circular Dichroism Spectrometer)

設備ID
NU-006
設置機関
名古屋大学
設備画像
キラリティー分光装置群
メーカー名
JASCO社 (JASCO)
型番
ECD J-702YS VCD FVS-6000 DRCD PCD-466
仕様・特徴
ECD J-702Y(電子円二色性)
器:ヘッドオン型光電子倍増管
・測定波長範囲:163~900nm(標準検出器)
・CD分解能:0.0005mdeg(±10mdeg), 0.01mdeg(±200mdeg), 0.1mdeg(±2000mdeg)
・ペルチェ式温度コントローラ装備
・クライオスタット装備

VCD FVS-6000(振動円二色性)
・測定波数範囲:3200~850 cm-1 (PV-MCT)
・測定波数範囲:4000~2000 cm-1 (InSb)
・分解:0.5, 1, 2, 4, 8, 16cm-1
・光学系:シングルビーム
・干渉計:28°入射マイケルソン干渉計
・光源:高輝度セラミック光源
・検出器:PV-MCT, InSb

DRCD PCD-466(拡散反射円二色性分光装置)
・光源:450W Xeランプ 水冷方式
・検出器:ヘッドオン型光電子倍増管・測定波長範囲:163~900nm(標準検出器)
・CD分解能:0.0005mdeg(±10mdeg), 0.01mdeg(±200mdeg), 0.1mdeg(±2000mdeg)

液体クロマトグラフィー (Liquid Chromatography)

設備ID
NU-007
設置機関
名古屋大学
設備画像
液体クロマトグラフィー
メーカー名
JASCO社 (JASCO)
型番
仕様・特徴
JASCO製、ポンプ(PU-2080 Plus), カラムオーブン(CO-2060 Plus)
測定温度範囲:4.0〜80.0℃
【付帯設備】
円二色性検出器(JASCO製、CD-2095)
旋光検出器(JASCO製、OR-2090 Plus)

蛍光分光光度計 (Fluorescence Spectrometer)

設備ID
NU-011
設置機関
名古屋大学
設備画像
蛍光分光光度計
メーカー名
JASCO社 (JASCO)
型番
FP-6500
仕様・特徴
・計測範囲:220 nm~750 nm
・10mmセル,ミクロセル使用可
・分解能:1 nm(励起・蛍光測定)
・ミクロセルホルダー装備 ・ETC-273型水冷ペルチェ式恒温セルホルダ装備

吸収分光光度計 (UV-VIS Spectrophotometer)

設備ID
NU-012
設置機関
名古屋大学
設備画像
吸収分光光度計
メーカー名
Shimadzu社 (Shimadzu)
型番
UV-1800
仕様・特徴
・190 nm~1100 nmまでの分光分析が可能
・1 cmセル
・吸光度:-4~4 Absで測定可能

動的光散乱(DLS) (Dynamic Light Scattering Analyzer (DLS))

設備ID
NU-013
設置機関
名古屋大学
設備画像
動的光散乱(DLS)
メーカー名
Malvern社 (Malvern)
型番
Zetasizer Nano ZS
仕様・特徴
・粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定
・測定可能粒径:0.6nm-6μm、ゼータ電位:5nm-10μm
・分子量:1000-2×107Da
・試料濃度:<10nm : 0.5g/l、10nm-100nm : 0.1mg/l、100nm-1μm : 0.01g/l、>1μm : 0.1g/l
・ゼータ電位:-200~200mV
・光学系:レーザードップラー法

MALDI TOF型質量分析装置 (Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-flight Mass Spectrometer (MALDI-TOFMS))

設備ID
NU-018
設置機関
名古屋大学
設備画像
MALDI TOF型質量分析装置
メーカー名
Bruker社 (Bruker)
型番
MALDI TOF MS autoflex max
仕様・特徴
Resolution : ≥ 26,000 for Somatostatin 28 (m/z 3,147.47)FWHM
Mass range : Up to 300,000 m/z
Laser type : BRUKER smartbeam™-II laser, 355 nm Wavelength
Linear TOF , Reflector TOF , TOF/TOF-Method , High-energy CID-Method

微小単結晶X線構造解析装置 (Single crystal X-ray diffractometer)

設備ID
NU-019
設置機関
名古屋大学
設備画像
微小単結晶X線構造解析装置
メーカー名
Rigaku(株) (Rigaku)
型番
VariMax
仕様・特徴
・分解能可変X線集光ミラー搭載
・輝度:31kW/mm2
・電動カメラ長可変機構(25 - 110mm)
・CCD検出器(70mm x 70mm)
・Mo線源
・試料吹きつけ冷却装置(-180℃~室温)
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