1. ホーム>
  2. 共用設備検索

共用設備検索結果

フリーワード検索

全自動元素分析装置 (CHNS/O Elemental Analyzer)

メーカー名
Perkin Elmer社 (PerkinElmer)
型番
2400Ⅱ CHNS/O
設備画像
全自動元素分析装置
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・サンプル量分析範囲 : ~500 mg(固体、液体)*目的元素含有量に依存
・C(0.001~3.6 mg)、H(0.001~1.0 mg)N(0.001~6.0 mg)、S(0.001~2.0 mg)
・測定方式: 静的燃焼、フロンタルクロマトグラフィー、TCD検出

X線粉末回折装置 (X-ray Diffractometer (Powder Diffraction))

メーカー名
リガク社 (Rigaku)
型番
Smart Lab 3K1d/2dDSC
設備画像
X線粉末回折装置
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・最大出力:9kW
・検出器:シンチレーションカウンター、半導体1次元検出器、二次元検出器
・Cuターゲット
・試料水平配置

蛍光X線分析装置 (X-ray Fluorescence Analyzer)

メーカー名
リガク社 (Rigaku)
型番
NEX CG(EXDL 300)
設備画像
蛍光X線分析装置
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・・エネルギー分散型 ・最大出力:50W
・二次ターゲット:Cu、Mo、Al、RX-9、Si
・検出器:Silicon Drift Detector ・試料サイズ:φ20

走査型電子顕微鏡(SEM) (Scanning Electron Microscope (SEM))

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JSM-7500F
設備画像
走査型電子顕微鏡(SEM)
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・電界放出形電子銃 ・二次電子分解能:1.0nm(15kV)、1.4nm(1kV) ・倍率:×25~1,000,000 加速電圧:0.1~30kV ・ジェントルビーム
・オプション:リトラクタブル反射電子検出器(RBEI)、エネルギー分散形X線分析装置(EDS)

NMR装置群 (Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer)

メーカー名
BRUKER社 (Bruker Agilent)
型番
AS300 AVANCE NEO 400MHz NMR 500MHz NMR
設備画像
NMR装置群
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
AS300
・超伝導磁石7.05T(1H周波数:300MHz) AVANCE300wbs
・プローブ:7mmCP/MAS 2.5mmCP/MAS
・NMRソフトウェア:XWIN-NMR

AVANCE NEO 400MHz NMR
マグネット:Asend
分光計:AVANCE NEO
ソフトウェア:Topspin4.0.6
iProbe: 5mmφBBO 1H/19F, 31P-199Hg
シムシステム BOSS Ⅲ-SB

AVANCE NEO 500MHz NMR
・超伝導磁石11.75T(1H周波数:500MHz) TOPSPIN Ver3.2 BBO Probe
温度可変:-150~150℃
1D/2D/3D測定

キラリティー分光装置群 (Circular Dichroism Spectrometer)

メーカー名
JASCO社 (JASCO)
型番
ECD J-702YS VCD FVS-6000 DRCD PCD-466
設備画像
キラリティー分光装置群
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
ECD J-702Y(電子円二色性)
器:ヘッドオン型光電子倍増管
・測定波長範囲:163~900nm(標準検出器)
・CD分解能:0.0005mdeg(±10mdeg), 0.01mdeg(±200mdeg), 0.1mdeg(±2000mdeg)
・ペルチェ式温度コントローラ装備
・クライオスタット装備

VCD FVS-6000(振動円二色性)
・測定波数範囲:3200~850 cm-1 (PV-MCT)
・測定波数範囲:4000~2000 cm-1 (InSb)
・分解:0.5, 1, 2, 4, 8, 16cm-1
・光学系:シングルビーム
・干渉計:28°入射マイケルソン干渉計
・光源:高輝度セラミック光源
・検出器:PV-MCT, InSb

DRCD PCD-466(拡散反射円二色性分光装置)
・光源:450W Xeランプ 水冷方式
・検出器:ヘッドオン型光電子倍増管・測定波長範囲:163~900nm(標準検出器)
・CD分解能:0.0005mdeg(±10mdeg), 0.01mdeg(±200mdeg), 0.1mdeg(±2000mdeg)

液体クロマトグラフィー (Liquid Chromatography)

メーカー名
JASCO社 (JASCO)
型番
設備画像
液体クロマトグラフィー
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
JASCO製、ポンプ(PU-2080 Plus), カラムオーブン(CO-2060 Plus)
測定温度範囲:4.0〜80.0℃
【付帯設備】
円二色性検出器(JASCO製、CD-2095)
旋光検出器(JASCO製、OR-2090 Plus)

原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscope (AFM))

メーカー名
Veeco Instruments社 (Veeco Instruments)
型番
AFM Nanoscope IIIa
設備画像
原子間力顕微鏡
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・MMAFM型マルチモードSPMユニット・サンプルサイズ:15mmφ×6mm厚(最大)・観察環境:大気中(標準機能)
・水平分解能:1nm(タッピング・モードAFM)
・スキャンサイズ:(水平軸走査範囲)0.4μm×0.4μm(AS-0.5)&10μm×10μm(AS-12), (垂直軸走査範囲)0.4μm(AS-0.5)&2.5μm(AS-12)

熱重量測定装置群 (Thermogravimetric Analyzer)

メーカー名
SII社 (SII)
型番
TG TG/DTA6200 DSC DSC6200
設備画像
熱重量測定装置群
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
TG TG/DTA6200 ・重量測定:水平差動天秤方式
・試料量:200mg(最大)
・測定温度:室温〜1100℃
・昇温速度:0.01〜200.00℃/min
・ガスフロー:1000mL/min DSC DSC6200 ・温度範囲:-150〜725℃ ・DSC測定範囲:±100mW ・DSC感度:1.6μW
・プログラム速度:0.01〜100℃/min
・試料量:100μL(最大, オープン試料容器), 15μL(最大, 密封試料容器)

フーリエ変換型赤外分光装置 (Fourier Transform Infrared Spectrometer (FT-IR))

メーカー名
JASCO社 (JASCO)
型番
FT-IR FT-IR-680 Plus
設備画像
フーリエ変換型赤外分光装置
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・測定波数範囲:7800~350cm-1
・分解:0.25, 0.5, 1, 2, 4, 8, 16cm-1
・光学系:シングルビーム
・干渉計:28°入射マイケルソン干渉計
・光源:セラミック特殊光源(標準)
・検出器:DLATGS(温調付, 標準)
スマートフォン用ページで見る