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共用設備検索結果

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X線構造解析装置 (X-ray structure analyser)

メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
SmartLab9kW/IP/HY/N
設備画像
X線構造解析装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・Ge(220)2結晶装着可
・温度可変試料台
・反射率測定可

微小単結晶X線構造解析装置 (Single crystal X-ray structure analyser)

メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
VariMax RAPID RA-Micro7
設備画像
微小単結晶X線構造解析装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・低温窒素吹付装置

ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Laser Scattering Spectrometer)

メーカー名
大塚電子 (Otsuka Electoronics)
型番
DLS-6000
設備画像
ダイナミック光散乱光度計
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・角度可変

多機能走査型X線光電子分光分析装置 (multi-functional scanning X-ray photoelectron spsctroscopy (XPS))

メーカー名
アルバックーファイ (ULVAC-PHI)
型番
PHI5000VersaProbeⅡ
設備画像
多機能走査型X線光電子分光分析装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・X線源:単色化Al Kα線(集束X線型、スポット径100μm-9μm)、Mg Kα線、Zr L線
・エネルギー分析器:同心半球型(半径 139.7 mm)
・検出器:16 チャンネル
・絶縁物測定:帯電中和用電子銃、Ar+イオン銃
・スパッタ深さ分析:Ar+イオン銃、GCIB(Arn+ Gas Cluster Ion Beam)
・5軸ステージ:X, Y, Z, Tilt, Rotation
・試料加熱冷却:-150℃-500℃

大気中光電子分光装置 (Photoemission Yield Spectroscopy in Air)

メーカー名
理研計器 (Riken Keiki)
型番
AC-3
設備画像
大気中光電子分光装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・エネルギー走査範囲:4.0~7.0eV
・繰り返し精度:0.02eV
・光量可変範囲:2~100nW
・照射スポットサイズ:2×5㎜

顕微レーザーラマン分光光度計 (Laser Raman Spectrophotometer with microscope)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
NRS-4100-30
設備画像
顕微レーザーラマン分光光度計
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・レーザー波長:532nm, 785nm
・レーザースポット径 :約 1μm (対物レンズ100x)
・偏光測定:レーザー光-試料配向、レーザー光-ラマン光
・分光器:ツェルニターナ型、焦点距離30cm, 回折格子x3 (600 gr/mm, 1200 gr/mm; 2400 gr/mm)
・4軸ステージ: X, Y, Z, 試料配向回転

電子線マイクロアナライザ (Electron Probe Micrianalyser(EPMA))

メーカー名
島津製作所 (Shimadzu)
型番
EPMA1610
設備画像
電子線マイクロアナライザ
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・加速電圧: 〜 30 kV
・WDS検出器(5ch)
・EDS検出器搭載
・CL検出器搭載

円二色性分散計 (Circular Dichroism Spectrometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
J-820
設備画像
円二色性分散計
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・測定可能領域:163~1100nm

光ダイナミクス分光装置. (Photo-dynamics spectroscopy Sstem)

メーカー名
独自組み上げ (self-assembled system)
型番
-
設備画像
光ダイナミクス分光装置.
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・フェムト秒パルスレーザー(チタンサファイア)(Coherent Mira 900) ・サブナノ秒パルスレーザー(窒素)(USHO KEC-160) ・ストリークスコープ(HAMAMATSU C4780)

マトリックス支援レーザーイオン化Spiral飛行時間型質量分析計 (Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Spiral Time-of-Flight Mass Spectrometer)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JMS-S3000
設備画像
マトリックス支援レーザーイオン化Spiral飛行時間型質量分析計
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・マトリックス支援レーザー脱離イオン化(MALDI) ・TOF/TOF ・らせん状飛行時間型
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