共用設備検索結果
X線構造解析装置 (X-ray structure analyser)
- 設備ID
- NR-301
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab9kW/IP/HY/N
- 仕様・特徴
- ・Ge(220)2結晶装着可
・温度可変試料台
・反射率測定可
微小単結晶X線構造解析装置 (Single crystal X-ray structure analyser)
- 設備ID
- NR-302
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- VariMax RAPID RA-Micro7
- 仕様・特徴
- ・低温窒素吹付装置
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Laser Scattering Spectrometer)
- 設備ID
- NR-303
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electoronics)
- 型番
- DLS-6000
- 仕様・特徴
- ・角度可変
多機能走査型X線光電子分光分析装置 (multi-functional scanning X-ray photoelectron spsctroscopy (XPS))
- 設備ID
- NR-401
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- アルバックーファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- PHI5000VersaProbeⅡ
- 仕様・特徴
- ・X線源：単色化Al Kα線（集束X線型、スポット径100μm-9μm）、Mg Kα線、Zr L線
・エネルギー分析器：同心半球型（半径 139.7 mm）
・検出器：16 チャンネル
・絶縁物測定：帯電中和用電子銃、Ar+イオン銃
・スパッタ深さ分析：Ar+イオン銃、GCIB（Arn+ Gas Cluster Ion Beam）
・5軸ステージ：X, Y, Z, Tilt, Rotation
・試料加熱冷却：-150℃-500℃
大気中光電子分光装置 (Photoemission Yield Spectroscopy in Air)
- 設備ID
- NR-402
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 理研計器 (Riken Keiki)
- 型番
- AC-3
- 仕様・特徴
- ・エネルギー走査範囲：4.0～7.0eV
・繰り返し精度：0.02eV
・光量可変範囲：2～100ｎW
・照射スポットサイズ：2×5㎜
顕微レーザーラマン分光光度計 (Laser Raman Spectrophotometer with microscope)
- 設備ID
- NR-403
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- NRS-4100-30
- 仕様・特徴
- ・レーザー波長：532nm, 785nm
・レーザースポット径 ：約 1μm (対物レンズ100x)
・偏光測定：レーザー光-試料配向、レーザー光-ラマン光
・分光器：ツェルニターナ型、焦点距離30cm, 回折格子x3 （600 gr/mm, 1200 gr/mm; 2400 gr/mm)
・4軸ステージ： X, Y, Z, 試料配向回転
電子線マイクロアナライザ (Electron Probe Micrianalyser(EPMA))
- 設備ID
- NR-404
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (Shimadzu)
- 型番
- EPMA1610
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 〜 30 kV
・WDS検出器（5ch）
・EDS検出器搭載
・CL検出器搭載
円二色性分散計 (Circular Dichroism Spectrometer)
- 設備ID
- NR-405
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-820
- 仕様・特徴
- ・測定可能領域：163～1100nm
光ダイナミクス分光装置. (Photo-dynamics spectroscopy Sstem)
- 設備ID
- NR-406
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 独自組み上げ (self-assembled system)
- 型番
- -
- 仕様・特徴
- ・フェムト秒パルスレーザー（チタンサファイア）（Coherent Mira 900） ・サブナノ秒パルスレーザー（窒素）（USHO KEC-160） ・ストリークスコープ（HAMAMATSU C4780）
マトリックス支援レーザーイオン化Spiral飛行時間型質量分析計 (Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Spiral Time-of-Flight Mass Spectrometer)
- 設備ID
- NR-501
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JMS-S3000
- 仕様・特徴
- ・マトリックス支援レーザー脱離イオン化（MALDI） ・TOF/TOF ・らせん状飛行時間型