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500MHz NMR (500MHz NMR)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JNM-ECZ500R
設備画像
500MHz NMR
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・共鳴周波数:500MHz(1H)
・高速グラジエントシム・PFG・多核測定対応
・1H{19F},19F{1H},13C{1H}{19F}測定対応
・温度可変測定:高温および低温
・オートサンプラー:24本

400MHz 固体・溶液NMR (400MHz NMR for solid state and solution))

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JNM-ECX400P
設備画像
400MHz 固体・溶液NMR
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
溶液
・共鳴周波数:400MHz(1H)
・グラジエントシム・PFG・多核測定対応
・温度可変測定:高温および低温
・オートサンプラー:30本
・低周波核測定プローブ
固体
・4㎜-CPMAS測定対応

600MHz NMR (600MHz NMR)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JNM-ECA600
設備画像
600MHz NMR
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・共鳴周波数:600MHz(1H)
・グラジエントシム・PFG・多核測定対応
・温度可変測定:高温および低温

電子スピン共鳴装置 (Electron Spin Reasonance Spectrophotometer)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JES-FA100N
設備画像
電子スピン共鳴装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・基準周波数:8.75~9.65GHz
・磁場掃引幅:0~±250mT
・磁場可変範囲:-10~650mT
・温度可変測定:高温および低温
・光源:高圧水銀ランプおよびキセノンランプ
・試料角度回転測定対応

多機能分析走査電子顕微鏡 (Multi-functional Analysis Scanning Electron Microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JSM-IT800
設備画像
多機能分析走査電子顕微鏡
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・加速電圧: 100 V 〜 30 kV
・分解能: 0.5 nm(2次電子像、加速電圧15 kV)
・EDS検出器搭載
・EBSD検出器搭載
・CL検出器搭載
・低真空機能搭載

300kV透過電子顕微鏡 (300kV Transmission Electron Microscope (TEM))

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-3100FEF
設備画像
300kV透過電子顕微鏡
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・加速電圧: 300kV
・倍率: 100~2,000,000倍(分解能:0.19nm)
・オプション:
クライオシステム
高温観察システム
動画観察システム
トモグラフィ,三次元再構成システム
電子エネルギー損失分光

200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM))

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2200FS
設備画像
200kV透過電子顕微鏡
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・加速電圧: 200kV
・倍率: 1,200~600,000倍(分解能:0.31nm)
・オプション:
動画観察システム

走査透過電子顕微鏡(STEM) (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
HD-2700
設備画像
走査透過電子顕微鏡(STEM)
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV
・球面収差補正装置搭載
・分解能: 136 pm
・EDX検出器搭載

超高分解能電界放出型電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM))

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
SU9000
設備画像
超高分解能電界放出型電子顕微鏡
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・加速電圧: 500 V 〜 30 kV
・分解能: 0.4 nm(2次電子像、加速電圧30 kV)
・EDX検出器搭載
・STEM検出器搭載

低真空分析走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microsope (SEM))

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
SU6600
設備画像
低真空分析走査電子顕微鏡
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・加速電圧: 500 V 〜 30 kV
・分解能: 1.2 nm(2次電子像、加速電圧30 kV)
・EDS検出器搭載
・EBSD検出器搭載
・低真空機能搭載
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