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500MHz NMR (500MHz NMR)

設備ID
NR-101
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
500MHz NMR
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JNM-ECZ500R
仕様・特徴
・共鳴周波数:500MHz(1H)
・高速グラジエントシム・PFG・多核測定対応
1H{19F},19F{1H},13C{1H}{19F}測定対応
・温度可変測定:高温および低温
・オートサンプラー:24本

400MHz 固体・溶液NMR (400MHz NMR for solid state and solution)

設備ID
NR-102
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
400MHz 固体・溶液NMR
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JNM-ECX400P
仕様・特徴
溶液
・共鳴周波数:400MHz(1H)
・グラジエントシム・PFG・多核測定対応
・温度可変測定:高温および低温
・オートサンプラー:30本
・低周波核測定プローブ
固体
・4㎜-CPMAS測定対応

600MHz NMR (600MHz NMR)

設備ID
NR-103
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
600MHz NMR
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JNM-ECA600
仕様・特徴
・共鳴周波数:600MHz(1H)
・グラジエントシム・PFG・多核測定対応
・温度可変測定:高温および低温

電子スピン共鳴装置 (Electron Spin Reasonance Spectrophotometer)

設備ID
NR-104
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
電子スピン共鳴装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JES-FA100N
仕様・特徴
・基準周波数:8.75~9.65GHz
・磁場掃引幅:0~±250mT
・磁場可変範囲:-10~650mT
・温度可変測定:高温および低温
・光源:高圧水銀ランプおよびキセノンランプ
・試料角度回転測定対応

多機能分析走査電子顕微鏡 (Multi-functional analysis Scanning Electron Microsope (SEM))

設備ID
NR-201
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
多機能分析走査電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JSM-IT800
仕様・特徴
・加速電圧: 100 V 〜 30 kV
・分解能: 0.5 nm(2次電子像、加速電圧15 kV)
・EDS検出器搭載
・EBSD検出器搭載
・CL検出器搭載
・低真空機能搭載

200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM))

設備ID
NR-203
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
200kV透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2200FS
仕様・特徴
・加速電圧: 200kV
・倍率: 1,200~600,000倍(分解能:0.31nm)
・オプション:
動画観察システム

走査透過電子顕微鏡(STEM) (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))

設備ID
NR-204
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
走査透過電子顕微鏡(STEM)
メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
HD-2700
仕様・特徴
・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV
・球面収差補正装置搭載
・分解能: 136 pm
・EDX検出器搭載

超高分解能電界放出型電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM))

設備ID
NR-205
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
超高分解能電界放出型電子顕微鏡
メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
SU9000
仕様・特徴
・加速電圧: 500 V 〜 30 kV
・分解能: 0.4 nm(2次電子像、加速電圧30 kV)
・EDX検出器搭載
・STEM検出器搭載

低真空分析走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microsope (SEM))

設備ID
NR-206
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
低真空分析走査電子顕微鏡
メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
SU6600
仕様・特徴
・加速電圧: 500 V 〜 30 kV
・分解能: 1.2 nm(2次電子像、加速電圧30 kV)
・EDS検出器搭載
・EBSD検出器搭載
・低真空機能搭載

X線構造解析装置 (X-ray structure analyser)

設備ID
NR-301
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
X線構造解析装置
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
SmartLab9kW/IP/HY/N
仕様・特徴
・Ge(220)2結晶装着可
・温度可変試料台
・反射率測定可
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