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放射光メスバウアー分光装置 (Synchrotron radiation Mössbauer spectrometer)

設備ID
QS-111
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
設備画像
放射光メスバウアー分光装置
メーカー名
神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
型番
なし(特別仕様)
仕様・特徴
57Fe, 61Ni等のメスバウアー核種を対象とした放射光メスバウアー分光が可能で、物質の電子・磁気状態や格子振動状態に関する情報を得る事ができる。更に、斜入射法や同位体置換試料を利用する事で、金属薄膜の表面部を原子層の深さ分解能で測定する事も可能である。

共鳴非弾性X線散乱装置 (Resonant inelastic X-ray scattering spectrometer)

設備ID
QS-112
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
設備画像
共鳴非弾性X線散乱装置
メーカー名
神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
型番
なし(特別仕様)
仕様・特徴
入射X線、散乱(発光)X線の双方のエネルギーを0.1 eV程度のエネルギーで分光実験が可能な装置。4軸回折計配置で共鳴非弾性X線散乱により電子励起の運動量依存性が測定できるほか、高エネルギー分解能X線吸収分光、X線発光分光の実験も可能である。試料温度は10 Kから800 Kまで。

表面X線回折計 (Surface X-ray diffractometer)

設備ID
QS-113
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
設備画像
表面X線回折計
メーカー名
神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
型番
なし(特別仕様)
仕様・特徴
分子線エピタキシー(MBE)チェンバーを搭載した表面構造解析用X線回折計。半導体量子ドット結晶や多層膜、ナノワイヤなどの成長過程をX線回折によりその場観察・リアルタイム観察可能。2台のMBEを交換し、RF-MBEによるGaN、InNなどの窒化物半導体、また、GaAs、InAsなどのヒ素化合物の成長を行うことができる。

高温高圧プレス装置 (High-pressure and high-temperature X-ray deffractometer)

設備ID
QS-141
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
設備画像
高温高圧プレス装置
メーカー名
有限会社オーサワシステムほか (Osawa system LLC/Ltd., etc.)
型番
なし(特別仕様)
仕様・特徴
10万気圧、2000℃程度までの圧力・温度状態下の試料を、白色X線を用いたエネルギー分散型X線回折法やラジオグラフィー法等によって調べることができる。10万気圧、1000℃程度までの超高圧高温の水素雰囲気発生もでき、高温高圧下の金属水素化反応のその場観察が可能。

コヒーレントX線回折イメージング装置 (Diffractometer for coherent X-ray diffraction imaging)

設備ID
QS-221
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
設備画像
コヒーレントX線回折イメージング装置
メーカー名
HUBER社(ドイツ)ほか (Huber Diffraktionstechnik GmbH & Co. KG, etc.)
型番
なし(特別仕様)
仕様・特徴
X線領域のブラッグ反射を利用したコヒーレントX線回折イメージングが実施できる。粒径40nm~数μmの結晶粒の形状や内部構造(応力、ドメイン等)の3次元イメージングが可能。試料環境制御に関しては要相談。

高速2体分布関数計測装置 (Diffractometer for rapid-acquisition pair distribution function measurement)

設備ID
QS-222
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
設備画像
高速2体分布関数計測装置
メーカー名
(株)リガクほか (Rigaku Corporation, etc.)
型番
なし(特別仕様)
仕様・特徴
最高70 keVの高エネルギーX線の利用により最大Q=27Å-1までのX線全散乱測定が可能であり、全散乱プロファイルから約100Åまでの距離相関の原子2体分布関数(PDF)が導出可能。室温、1 MPa未満の水素と窒素ガス雰囲気でのその場観察が可能。ダイヤモンドアンビルセルを用いた高圧下での単結晶X線回折および粉末X線回折にも適用可能。
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