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表面化学実験ステーション (Surface chemistry experimental apparatus)

メーカー名
オミクロン (Omicron)
型番
EA125
設備画像
表面化学実験ステーション
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
表面界面の電子状態の精密分析や時分割観察が可能
・高輝度・高エネルギー分解能高輝度軟X線放射光(400~1500eV)
・複合表面分析(LEED、Arスパッター、SPM、蒸着(実績:Hf、Ge、Cs、Auなど)
・超高真空(2×10-8Pa)~ガス雰囲気(2×10-3Pa)
室温~1150℃加熱中の光電子分光観察
・材料プロセスの時分割観察、超音速分子線を使った反応ダイナミクス
・測定試料:半導体(Si、Ge、SiC、GaN etc)、金属(Cu、Ni、各種合金)、グラフェン等の新材料、ナノ粒子、機能物質など。単結晶、多結晶、アモルファス、薄膜
・導入ガス:酸素、水素、水、ギ酸、一酸化窒素、、メタン、エタン、塩化メチル、NO2、COなど

軟X線磁気円二色性測定装置 (Soft X-ray magnetic circular dichroism apparatus)

メーカー名
カスタム (Home-made)
型番
なし
設備画像
軟X線磁気円二色性測定装置
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
強磁性体などの特定元素の磁気モーメントを検出可能
・光エネルギー:390~2000 eV
・印可可能磁場:±10テスラ
・磁場掃引速度:1テスラ/分
・測定試料温度:6K~室温
・磁気モーメントの測定下限:10-3ボーア磁子/原子
・左右円偏光連続高速反転(1Hz)によりS/N比の高いデータ取得可能

高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station)

メーカー名
カスタム (Home-made)
型番
なし
設備画像
高輝度放射光XAFSシステム
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
試料中の特定元素の原子価や局所構造を決定
・エネルギー範囲:4~72keV
・測定方法:通常の透過法/微量元素用の蛍光法、通常のStepScan/高速計測対応(QuickScan)
・試料:国際規制物資、RI・アクチノイド試料可
・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能
・クライオスタットによる低温測定

応力・イメージング測定装置 (The apparatus for imaging and measuring material stress)

メーカー名
浜松ホトニクス 米倉製作所 DEBEN  (Hamamatsu Photonics K.K. YONEKURA MFG. Co., Ltd. DEBEN)
型番
M11427-43 CT5000
設備画像
応力・イメージング測定装置
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
金属材料などの変形中の応力評価やイメージングが可能
【応力・ひずみ】
・時間分解能:最大100Hz
・ひずみ精度:0.01%(応力精度:30MPa@鉄鋼材料)
・空間分解能:最小5μm
・侵入深さ:10mm@鉄鋼材料、50mm@アルミニウム合金
・負荷中、高温中での計測が可能
【イメージング】
・時間分解能:最大1000Hz
・空間分解能:最小3μm
・試料サイズ:φ4mm
・CT計測が可能(最小時間約5分)
・負荷中での計測が可能
〇上述2つの測定を併用することが可能
〇レーザー等の持ち込み装置を利用したその場時分割計測が可能

カッパ型多軸回折計 (κ-type X-ray diffractometer)

メーカー名
ニューポート (Newport)
型番
特注
設備画像
カッパ型多軸回折計
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
通常の回折計のような6軸に加え回転軸を持ち表面の構造解析も可能
・長い2thetaアーム(による高分解能性
・堅牢な回折計
・広いオープンスペースによる試料選択の柔軟性
・試料温度:10-1000K
・試料:固体(誘電体、非晶質)や薄膜
・電気化学同時測定

エネルギー分散型XAFS装置 (Energy-dispersive XAFS measuring station)

メーカー名
カスタム (Home-made)
型番
なし
設備画像
エネルギー分散型XAFS装置
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
元素の局所構造・電子状態を時間分解観測
・観測可能元素:Ti以上
・温度:20-1000 K
・測定レート:最大100 Hz
・ガスフロー制御システムあり
・ポテンシオスタットによる電気化学測定可能

軟X線光電子分光装置 (Soft X-ray photoelectron spectrometer)

メーカー名
カスタム(電子分析アナライザー: VG Scienta) (Home-made (Electron Analyzer: VG Scienta))
型番
電子分析アナライザー: SES-2002
設備画像
軟X線光電子分光装置
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
角度分解光電子分光(ARPES)測定も可能な光電子分光装置。希土類及び3d遷移金属化合物の詳細な電子構造を調べることができる。
・光エネルギー:400-1500 eV
・エネルギー分解能:50-200 meV
・試料温度:6-300 K
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