共用設備検索結果
低加速高分解能走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-506
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- S-5500
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 0.1 kV～30 kV FE電子銃
・二次電子像分解能 0.4/1.3 nm (30/1 kV)
集束イオンビーム加工装置 (Dual-Beam FIB System )
- 設備ID
- TU-507
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Quanta 3D
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 1 kV～30 kV W電子銃
・加速電圧 5 kV～30 kV Gaイオン銃
・保護膜形成 W蒸着・C蒸着
集束イオンビーム加工装置 (Dual-Beam FIB System )
- 設備ID
- TU-508
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Versa 3D
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 0.5 kV～30 kV W電子銃
・加速電圧 0.5 kV～30 kV Gaイオン銃
・保護膜形成 Pt蒸着・C蒸着
・シリアルセクショニング
・反射電子検出器
電顕試料用研磨機 (Grinder for TEM specimen preparation)
- 設備ID
- TU-509
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- handy lap HLA-2
- 仕様・特徴
- ・精密平行研磨可能
イオンミリング装置 (Ion milling apparatus)
- 設備ID
- TU-510
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- ガタン社 (Gatan Inc.)
- 型番
- PIPSⅡ
- 仕様・特徴
- 低エネルギー集束電極 ペニング形イオン銃2式
-10°～+10° 調整可能
100eV ～8keV
イオンミリング装置 (Ion milling apparatus)
- 設備ID
- TU-511
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- ガタン社 (Gatan Inc.)
- 型番
- PIPSⅡ
- 仕様・特徴
- 低エネルギー集束電極 ペニング形イオン銃2式
-10°～+10° 調整可能
100eV ～8keV
イオンミリング装置 (Ion milling apparatus)
- 設備ID
- TU-512
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- フィッショーネ・インスツルメンツ社 (Fischone Instruments, Inc.)
- 型番
- model 1010
- 仕様・特徴
- ダブルイオン銃方式
照射角度 -10°～+10°
ミリング角調整機能
ウルトラミクロトーム装置 (Ultramicrotome)
- 設備ID
- TU-513
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- ライカ社 (Leica Reichert)
- 型番
- Ultracut S
- 仕様・特徴
- 試料厚さ：1～15μm
熱分析装置 (Thermal Analysis Equipment)
- 設備ID
- TU-514
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 株式会社リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- Thermo plus EVO Ⅱ
- 仕様・特徴
- DSC
・室温～725 ℃
TG-DTA
・室温～1350 ℃
・最大試料量 1 g
・最大昇温速度 100 ℃/min
高出力全自動水平型多目的X線回折装置 (Intelligent X-ray Diffraction System )
- 設備ID
- TU-515
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 株式会社リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- SmartLab 9SW
- 仕様・特徴
- ・最大出力 9 kW
・θ-θ型試料水平高精度ゴニオメータ
（-3°～160°、ゴニオ半径300 mm）
・インプレーンアーム 2θχ（-3°～120°）
・DSCユニット（室温～350 ℃）
・Cuターゲット