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誘導結合プラズマ発光分光分析装置 (ICP Atomic Emission Spectrometer)

設備ID
TU-615
設置機関
東北大学
設備画像
誘導結合プラズマ発光分光分析装置
メーカー名
島津製作所 (Shimazu)
型番
ICPE-9800
仕様・特徴
・プラズマ光源:軸・横方向観測、ミニプラズマトーチ
・高周波電源:水晶発振器、最大出力;1.6 kW、半導体高周波回折素子
・光学器:エシェル分光器、波長範囲:167~800 nm、半導体検出器、分解能;0.005 nm(@200 nm)

質量分析計 (FT-ICT-MS)

設備ID
TU-614
設置機関
東北大学
設備画像
質量分析計
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
SolariX XR 12 T
仕様・特徴
・超伝導磁石の磁場強度:12 T
・マスレンジ:m/z 100~10,000
・イオン化法:ESI、MALDI、APPI、APCI
・質量分解能: m/z 407(Lincomycin)で200万以上

単結晶X線構造解析装置 (Single Crystal X-ray Diffractometer)

設備ID
TU-613
設置機関
東北大学
設備画像
単結晶X線構造解析装置
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
XtaLAB Synergy
仕様・特徴
・型式:回転対陰極方式
・最大定格出力:1.2 kW
・ターゲット:2色管球 Cu/Mo
・X線光学系:集光型人工多層膜 集光ミラー
・ゴニオメーター:χ軸;-179°~+179°、2θ軸測角範囲;-100°~+120°
・検出器:HyPiX-6000HE

核磁気共鳴分光装置 (NMR)

設備ID
TU-612
設置機関
東北大学
設備画像
核磁気共鳴分光装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JNM-ECZL700G
仕様・特徴
・基準磁場:16.441 T
・基準周波数:1H ;700 MHz、13C;176 MHz
・プローブ:溶液サンプル用、低周波核対応
・温度可変範囲:-100~+150 ℃(実質可変範囲)

核磁気共鳴分光装置 (NMR)

設備ID
TU-611
設置機関
東北大学
設備画像
核磁気共鳴分光装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JNM-ECZL800G
仕様・特徴
・基準磁場: 18.793 T
・基準周波数: 1H;800 MHz、13C;201 MHz
・プローブ:溶液と固体サンプルの多核種
・溶液NMR温度可変範囲:-100~+100℃(実質可変範囲)

透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
TU-520
設置機関
東北大学
設備画像
透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100Plus
仕様・特徴
・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDSマッピング

2光子励起顕微鏡  (Two-photon excitation microscope)

設備ID
TU-328
設置機関
東北大学
設備画像
2光子励起顕微鏡
メーカー名
Leica (Leica)
型番
TCS SP8 MP STED
仕様・特徴
超解像オプション付、共焦点観察可

半導体パラメータアナライザ (Semiconductor parameter analyzer)

設備ID
TU-327
設置機関
東北大学
設備画像
半導体パラメータアナライザ
メーカー名
Keysight (Keysight)
型番
B1500A SMU B1511B x4 GNDU
仕様・特徴
各種半導体集積回路特性評価

Zygo Nexview (Zygo Nexview)

設備ID
TU-326
設置機関
東北大学
設備画像
Zygo Nexview
メーカー名
Zygo (Zygo)
型番
Nexview
仕様・特徴
サンプルサイズ:小片~6インチ

マイクロマニピュレータ (Micromanipulator)

設備ID
TU-269
設置機関
東北大学
設備画像
マイクロマニピュレータ
メーカー名
Micro support (Micro support)
型番
-
仕様・特徴
マイクロスコープ一体型
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