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原子分解能分析電子顕微鏡群 (Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope)

メーカー名
日本電子/ガタン (JEOL/Gatan, Inc./Gatan, Inc.)
型番
JEM-ARM200F/PIPS II/Model 656
設備画像
原子分解能分析電子顕微鏡群
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
●走査透過電子顕微鏡(JEM-ARM200F)
加速電圧:80kV・200kV,電子銃:冷陰極電界放出型
EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
●イオンミリング装置(PIPS II)
高精度で無機化合物、金属、複合材料などをAr+イオンにより研磨できる。イオン銃加速電圧:0.1~7kV 冷却ステージあり
●ディンプルグラインダー(Model 656)
イオンミリングの前処理として固体板状試料に3mmΦ以下のくぼみをつけることができる。

特型走査電子顕微鏡装置 (Scanning Electron Microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JSM5600+特型試料ステージ
設備画像
特型走査電子顕微鏡装置
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
WフィラメントSEM。ピエゾ駆動探針装備。電気・機械特性測定、その場抵抗加熱可能。

白色共焦点顕微鏡 (Laser Confocal microscope)

メーカー名
レーザーテック (Lasertec Corporation)
型番
OPTELICS HYBRID C3
設備画像
白色共焦点顕微鏡
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
白色光源および6波長選択機能
高さ測定、線幅測定、表面粗さ測定(JI S、ISO対応)、3D表示
1μm~nmの透明膜の膜厚測定
室温~1000℃の高温加熱ステージ(真空、不活性ガス、大気中での測定)

メスバウアー分光装置 (Mössbauer Spectrometer)

メーカー名
ラボラトリ・イクイップメント、 WissEl 他 (Laboratory equipment corporation, WissEl, etc.)
型番
複合システム
設備画像
メスバウアー分光装置
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
57Fe 核,119Sn 核
透過法,内部転換電子検出法

X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectrometer)

メーカー名
アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
型番
Quantes
設備画像
X線光電子分光装置
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
線源:Al-Kα, Cr-Kα
低エネルギー電子とイオン同時照射による帯電中和
アルゴンモノマー/クラスター切り替え可能なデュアルイオン銃を搭載
-120℃~250℃(試料ステージ上)

UV/VIS/NIR分光光度計 (UV/VIS/NIR Spectrophotometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
V570
設備画像
UV/VIS/NIR分光光度計
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
・吸収スペクトルの波長範囲:190~2500nm(オプション使用時は制限あり)
・入射角を変化させた反射スペクトル測定が可能
・透過測定にはクライオスタットを使用した低温可能
・付設装置:1回反射測定装置SLM468、積分球装置ISN470、粉末試料ホルダ、フィルムホルダFLH466、絶対反射率測定装置ARN475、低温測定用クライオスタット、ターボ排気システム(アルカテルACT200)

単結晶X線構造解析装置群 (Single Crystal X-ray Diffractometer)

メーカー名
リガク/美和製作所 (Rigaku/Miwa Manufacturing Co., Ltd.)
型番
Mercury-CCD/MB105B-G
設備画像
単結晶X線構造解析装置群
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
●単結晶X線回折装置(Mercury-CCD)
CCD検出器
線源 Mo (60kV - 300mA)
室温~−80ºCでの測定が可能
結晶の大きさ:最低0.1mm角以上の板状結晶が望ましい
●グローブボックス(MB105B-G)
Ar(またはN2)下における少量のサンプル調整(合成)が可能、冷蔵庫内蔵(4ºC)、電子天秤あり

単結晶X線構造解析装置群 (Single Crystal X-ray Diffractometer)

メーカー名
リガク/MBRAUN (Rigaku/MBRAUN)
型番
VariMax with DW RAPID/UNIlab
設備画像
単結晶X線構造解析装置群
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
●単結晶X線回折装置(VariMax with DW RAPID)
イメージングプレート型 測角範囲(-60º~+144º)
線源 Cu /Moの選択が可能
室温~−180ºCでの測定が可能
小さい単結晶(~0.05Å角程度の微小結晶)も測定可能
●グローブボックス(UNIlab)
N2(またはAr)下における少量のサンプル調整(合成)が可能、冷蔵庫内蔵(4ºC)、電子天秤あり

電子スピン共鳴装置 (Electron Spin Resonance Spectrometer)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JES-RE1X
設備画像
電子スピン共鳴装置
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
周波数:8800~9600MHz(Xバンド)
出力:0.1μW~200mW可変 測定対象:固体もしくは凍結サンプル 測定:77K

表面増強赤外分光装置 (Surface-Enhanced Infrared Spectroscope)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
FT-IR4200ST
設備画像
表面増強赤外分光装置
設置機関
名古屋工業大学
仕様・特徴
測定範囲:4,000~1,000 cm–1
in situ測定(電気化学)
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