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核磁気共鳴スペクトル測定装置 800MHz (NMR 800MHz)

メーカー名
Bruker BioSpin (Bruker BioSpin )
型番
AVANCE III 800
設備画像
核磁気共鳴スペクトル測定装置 800MHz
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
分光計 AVANCE III(4-channel 仕様)
磁場強度 18.79テスラ
1H共鳴周波数 800MHz
検出器 TCI-triple resonance cryogenic probe
観測可能核 1H, 13C, 15N, 2H
感度 S/N for 1H > 7,600
温度可変装置付
液体窒素再凝縮装置付

核磁気共鳴スペクトル測定装置 500MHz (NMR 500MHz)

メーカー名
Bruker BioSpin (Bruker BioSpin )
型番
AVANCE III 500
設備画像
核磁気共鳴スペクトル測定装置 500MHz
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
分光計 AVANCE III (固体・溶液兼用)
磁場強度 11.7テスラ
1H共鳴周波数 500MHz
5mm径 多核種用プローブ(液体試料用)
CPMASプローブ(固体試料用)
液体窒素再凝縮装置付

核磁気共鳴スペクトル測定装置 400MHz (NMR 400MHz)

メーカー名
Bruker BioSpin (Bruker BioSpin )
型番
Avance NEO 400
設備画像
核磁気共鳴スペクトル測定装置 400MHz
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
分光計 AVANCE NEO(1H,19F観測およびデカップリングチャンネル)
磁場強度 9.4テスラ
1H共鳴周波 400MHz
BBO-cryo probe (prodigy)
液体窒素再凝縮装置付

フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計 (FT-ICR MS)

メーカー名
Bruker Daltonics (Bruker Daltonics )
型番
SolariX
設備画像
フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
磁場強度 9.4 T
分解能 数万~数百万
観測質量範囲 通常の設定では m/z 50 - 10000
試料の量 pmol - fmol order
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 ESI, MALDI, APPI, APCI
MS/MS CID, ETD, ECD

マトリックス支援レーザー脱離イオン化タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI-TOF/TOF MS)

メーカー名
Bruker Daltonics (Bruker Daltonics )
型番
ultrafleXtreme
設備画像
マトリックス支援レーザー脱離イオン化タンデム飛行時間型質量分析計
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
分解能 最大約 40,000
観測質量範囲 m/z 20 - 50万
試料の量 pmol - fmol order
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 MALDI
MS/MS(CID)

ガスクロマトグラフ質量分析計 (GC-MS)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
AccuTOF GCX
設備画像
ガスクロマトグラフ質量分析計
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
気化室温度350℃
観測質量範囲 m/z 50 -800
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 EI, CI 熱分解装置使用可

液体クロマトグラフ質量分析計 (LC-MS)

メーカー名
Waters (Waters)
型番
ACQUITY UPLC H-Class およびM-Class(ナノLC), SYNAPT XS
設備画像
液体クロマトグラフ質量分析計
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
分解能 最大約 75000
観測質量範囲 m/z 50 - 64000
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 ESI, APCI, ナノESI
MS/MS(CID)
イオンモビリティー分析可
Progenesis QI for Proteomicsソフトウェア利用可

原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
設備画像
原子分解能走査透過型電子顕微鏡
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
加速電圧:200 kV
電子銃 ショットキー型電界放出銃
分解能:
0.08 nm(走査透過像)
0.19 nm(透過顕微鏡 粒子像)
0.10 nm(透過顕微鏡 格子像)
EDS、EELSによる組成分析機能付
照射系収差補正装置:組み込み
UHR仕様

透過電子顕微鏡 (TEM)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100Plus
設備画像
透過電子顕微鏡
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
【半遠隔利用可】
加速電圧:60, 100, 120, 200kV
EDSによる組成分析機能付
UHR仕様

低加速走査電子顕微鏡 (FE-SEM)

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
Regulus8230
設備画像
低加速走査電子顕微鏡
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
【遠隔利用可】
加速電圧:0.5-30kV(照射電圧0.01-20kV)
分解能:0.6nm at 15kV
EDX、EBSD、PD-BSE、EBIC
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