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共用設備検索結果

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超伝導量子干渉型磁束計 (Magnetic Property Measurement System)

メーカー名
quantum design (quantum design)
型番
MPMS-XL7
設備画像
超伝導量子干渉型磁束計
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
測定温度範囲は1.8K~800K,磁場も7テスラまで印加可能

高磁場多目的物性測定システム (Physical Property Measurement System)

メーカー名
quantum design (quantum design)
型番
PPMS
設備画像
高磁場多目的物性測定システム
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
測定温度は1.9 Kから室温まで。印加磁場は0 ~ 9テスラ

溶液NMR装置 (Liquid-State NMR spectrometer)

メーカー名
日本電子 (JEOL Resonance)
型番
ECA-500
設備画像
溶液NMR装置
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
1H共鳴周波数500MHz。 15Nから31Pまで測定可能。オートサンプルチェンジャ(24本)

DSC粉末X線同時測定装置  (Powder X-ray diffractometer)

メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
Ultima III
設備画像
DSC粉末X線同時測定装置
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
示差走査熱量測定(DSC)とX線回折データ測定が同時測定可能

HPC型単結晶X線回折装置 (Single crystal X-ray diffractometer)

メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
XtaLab Synergy-R/DW/RF
設備画像
HPC型単結晶X線回折装置
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
高輝度X線源、高速・高精度ゴニオメーター、高速読み出しHPC検出器を組み合わせることにより、超高速・超高精度測定を実現

顕微レーザーラマン分光計 (Raman spectrometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO Corporation)
型番
NRS-3100
設備画像
顕微レーザーラマン分光計
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
空間分解能:1μm。 532nmレーザと785nmレーザ

X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JPS-9200
設備画像
X線光電子分光装置
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
標準Ⅹ線源(Al-Mgツインターゲット)
最大負荷 Mg 500W, Al 600W、単色化X線源
Ag3d5/2光電子スペクトル、モノクロAlKα線で励起(600 W換算)

電子スピン共鳴装置 (Electron spin resonance spectrometer)

メーカー名
Bruker (Bruker)
型番
ELEXSYS
設備画像
電子スピン共鳴装置
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
分光器は約9GHzの定常波を用いており,4.2Kから300Kの温度範囲で測定可能

共焦点蛍光顕微鏡システム (Confocal Laser Scanning Fluorescence Microscope)

メーカー名
Carl Zweiss (Carl Zweiss)
型番
LSM710
設備画像
共焦点蛍光顕微鏡システム
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
励起用として405nm, 458nm, 488nm, 514nm, 561nm, 633nmのレーザーラインが使用可能。
最大10チャネルの異なる波長域の蛍光像を同時に取得可能

走査型電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope)

メーカー名
日立 (Hitachi High-Tech)
型番
S-4300
設備画像
走査型電子顕微鏡
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
加速電圧: 200kV, 格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
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