共用設備検索結果
超伝導量子干渉型磁束計 (Magnetic Property Measurement System)
- 設備ID
- UE-001
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- quantum design (quantum design)
- 型番
- MPMS-XL7
- 仕様・特徴
- 測定温度範囲は1.8K～800K，磁場も7テスラまで印加可能
高磁場多目的物性測定システム (Physical Property Measurement System)
- 設備ID
- UE-002
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- quantum design (quantum design)
- 型番
- PPMS
- 仕様・特徴
- 測定温度は1.9 Kから室温まで。印加磁場は0 ～ 9テスラ
溶液NMR装置 (Liquid-State NMR spectrometer)
- 設備ID
- UE-003
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL Resonance)
- 型番
- ECA－500
- 仕様・特徴
- 1H共鳴周波数500MHz。15Nから31Pまで測定可能。オートサンプルチェンジャ(24本)
DSC粉末X線同時測定装置 (Powder X-ray diffractometer)
- 設備ID
- UE-004
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- Ultima III
- 仕様・特徴
- 示差走査熱量測定(DSC)とX線回折データ測定が同時測定可能
HPC型単結晶X線回折装置 (Single crystal X-ray diffractometer)
- 設備ID
- UE-005
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLab Synergy-R/DW/RF
- 仕様・特徴
- 高輝度Ｘ線源、高速・高精度ゴニオメーター、高速読み出しHPC検出器を組み合わせることにより、超高速・超高精度測定を実現
顕微レーザーラマン分光計 (Raman spectrometer)
- 設備ID
- UE-006
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO Corporation)
- 型番
- NRS-3100
- 仕様・特徴
- 空間分解能:1μm。 532nmレーザと785nmレーザ
Ｘ線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
- 設備ID
- UE-007
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 標準X線源(Al-Mgツインターゲット)
最大負荷 Mg 500W, Al 600W、単色化X線源
Ag3d5/2光電子スペクトル、モノクロAlKα線で励起(600 W換算)
電子スピン共鳴装置 (Electron spin resonance spectrometer)
- 設備ID
- UE-008
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker (Bruker)
- 型番
- ELEXSYS
- 仕様・特徴
- 分光器は約9GHzの定常波を用いており，4.2Ｋから300Ｋの温度範囲で測定可能
共焦点蛍光顕微鏡システム (Confocal Laser Scanning Fluorescence Microscope)
- 設備ID
- UE-009
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Carl Zweiss (Carl Zweiss)
- 型番
- LSM710
- 仕様・特徴
- 励起用として405nm, 458nm, 488nm, 514nm, 561nm, 633nmのレーザーラインが使用可能。
最大10チャネルの異なる波長域の蛍光像を同時に取得可能
走査型電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope)
- 設備ID
- UE-010
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立 (Hitachi High-Tech)
- 型番
- S-4300
- 仕様・特徴
- 加速電圧: 200kV, 格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm