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共用設備検索結果

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超伝導量子干渉型磁束計 (Magnetic Property Measurement System)

設備ID
UE-001
設置機関
電気通信大学
設備画像
超伝導量子干渉型磁束計
メーカー名
quantum design (quantum design)
型番
MPMS-XL7
仕様・特徴
測定温度範囲は1.8K~800K,磁場も7テスラまで印加可能

高磁場多目的物性測定システム (Physical Property Measurement System)

設備ID
UE-002
設置機関
電気通信大学
設備画像
高磁場多目的物性測定システム
メーカー名
quantum design (quantum design)
型番
PPMS
仕様・特徴
測定温度は1.9 Kから室温まで。印加磁場は0 ~ 9テスラ

溶液NMR装置 (Liquid-State NMR spectrometer)

設備ID
UE-003
設置機関
電気通信大学
設備画像
溶液NMR装置
メーカー名
日本電子 (JEOL Resonance)
型番
ECA-500
仕様・特徴
1H共鳴周波数500MHz。15Nから31Pまで測定可能。オートサンプルチェンジャ(24本)

DSC粉末X線同時測定装置  (Powder X-ray diffractometer)

設備ID
UE-004
設置機関
電気通信大学
設備画像
DSC粉末X線同時測定装置
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
Ultima III
仕様・特徴
示差走査熱量測定(DSC)とX線回折データ測定が同時測定可能

HPC型単結晶X線回折装置 (Single crystal X-ray diffractometer)

設備ID
UE-005
設置機関
電気通信大学
設備画像
HPC型単結晶X線回折装置
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
XtaLab Synergy-R/DW/RF
仕様・特徴
高輝度X線源、高速・高精度ゴニオメーター、高速読み出しHPC検出器を組み合わせることにより、超高速・超高精度測定を実現

顕微レーザーラマン分光計 (Raman spectrometer)

設備ID
UE-006
設置機関
電気通信大学
設備画像
顕微レーザーラマン分光計
メーカー名
日本分光 (JASCO Corporation)
型番
NRS-3100
仕様・特徴
空間分解能:1μm。 532nmレーザと785nmレーザ

X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)

設備ID
UE-007
設置機関
電気通信大学
設備画像
X線光電子分光装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JPS-9200
仕様・特徴
標準X線源(Al-Mgツインターゲット)
最大負荷 Mg 500W, Al 600W、単色化X線源
Ag3d5/2光電子スペクトル、モノクロAlKα線で励起(600 W換算)

電子スピン共鳴装置 (Electron spin resonance spectrometer)

設備ID
UE-008
設置機関
電気通信大学
設備画像
電子スピン共鳴装置
メーカー名
Bruker (Bruker)
型番
ELEXSYS
仕様・特徴
分光器は約9GHzの定常波を用いており,4.2Kから300Kの温度範囲で測定可能

共焦点蛍光顕微鏡システム (Confocal Laser Scanning Fluorescence Microscope)

設備ID
UE-009
設置機関
電気通信大学
設備画像
共焦点蛍光顕微鏡システム
メーカー名
Carl Zweiss (Carl Zweiss)
型番
LSM710
仕様・特徴
励起用として405nm, 458nm, 488nm, 514nm, 561nm, 633nmのレーザーラインが使用可能。
最大10チャネルの異なる波長域の蛍光像を同時に取得可能

走査型電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope)

設備ID
UE-010
設置機関
電気通信大学
設備画像
走査型電子顕微鏡
メーカー名
日立 (Hitachi High-Tech)
型番
S-4300
仕様・特徴
加速電圧: 200kV, 格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
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