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共用設備検索結果

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NMR (NMR)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
ECS-400
設備画像
NMR
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・共鳴周波数:400MHz
・プローブ:多核種対応(1H, 13C, 15N~31P, 19F, 39K, 109Ag)
・温調:あり
・溶液サンプル専用

LC-MS (LC-MS)

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
型番
Q-Exactive Plus
設備画像
LC-MS
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・イオン化方式:ESI
・質量検出方式:Orbitrap
・測定質量範囲:50~6,000 m/z
・オートサンプラー:あり
・タンパク同定ソフト:MASCOT

ラマン顕微鏡 (Raman microscope)

メーカー名
レニショー (Renishaw)
型番
inVia Reflex
設備画像
ラマン顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・ラインレーザー照射による高速ラマンイメージング。
・繋ぎ目のない連続した広い波数範囲のスペクトル測定。
・共焦点機構による高い空間分解能。
・レーザー波長:532nm及び785nm
・波数分解能:0.3cm-1
・空間分解能:水平0.25µm、垂直1µm
・対物レンズ:5倍、20倍、50倍、63倍(水浸)、100倍
・温度制御:-196~600℃

共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡 (Confocal laser scanning fluorescence microscope)

メーカー名
ライカマイクロシステムズ (Leica Microsystems)
型番
SP5
設備画像
共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・対物レンズ:10倍、20倍、40倍、63倍
・高速モード撮影時:秒/250コマ撮影
・高解像モード撮影時:8000×8000撮影が可能
・励起光源:405nm、458nm、476nm、488nm、514nm, 543nm、633nm

液中原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope (AFM) in liquid)

メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
NanoWizard 4 XP
設備画像
液中原子間力顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
【AFM測定】
・液中観察:可
・走査範囲:水平100µm、垂直15µm
・動作モード:コンタクトモード、タッピングモード、フォースカーブマッピングモード、粘弾性測定、MFM観察
【直上顕微鏡】
・観察倍率:10倍
【倒立顕微鏡】
・観察法:明視野、位相差、蛍光
・対物レンズ:10倍、40倍
【その他】
・温度制御:室温+60℃まで

卓上走査型電子顕微鏡装置群 (Tabletop scanning electron microscope (SEM))

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
Miniscope TM4000PlusII Miniscope TM3000
設備画像
卓上走査型電子顕微鏡装置群
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
【TM4000PlusII】
・倍率:10倍~10万倍
・加速電圧 : 5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
・画像信号 : 反射電子, 二次電子
・真空モード:導電体(反射電子のみ)、標準、帯電軽減
・EDX:あり
【TM3000】
・倍率:15倍~3万倍
・加速電圧 : 5 kV、15 kV
・画像信号 : 反射電子のみ
・観察モード:通常、帯電軽減
・EDX:あり

表面プラズモン共鳴装置 (Surface plasmon resonance (SPR) instrument)

メーカー名
サイティバ (Cytiva)
型番
Biacore X100
設備画像
表面プラズモン共鳴装置
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・非標識で分子間相互作用解析が可能。
・ベースラインノイズ:<0.1 RU (RMS)
・フローセル容量:0.06 µL
・データ取得間隔:1 Hz
・測定温度:25℃(固定)
・オートサンプラー:最大15サンプル

プレートリーダー (Plate reader)

メーカー名
パーキンエルマー (PerkinElmer)
型番
EnSight
設備画像
プレートリーダー
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・モノクロメーターによる任意波長の測定が可能。
・多様な測定モード(吸光/蛍光/発光/時間分解蛍光)。
・温度調節機能やプレート撹拌機能を搭載。
・光源:UVキセノンフラッシュランプ
・検出器(吸光):フォトダイオード(230-1000nm)
・検出器(蛍光):光電子増倍管(230-850nm)
・波長選択:モノクロメーター
・プレートフォーマット:6ウェル、12ウェル、24ウェル、48ウェル、96ウェル、384ウェル

分光光度計 (Spectrophotometer)

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
U-2900
設備画像
分光光度計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・光学系:ダブルビーム
・波長範囲:190~1100nm
・スペクトルバンド幅:1.5nm

分光蛍光光度計 (Fluorescence spectrophotometer)

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
F-7000
設備画像
分光蛍光光度計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・感度:水のラマン光S/N800以上(RMS)、S/N250以上(Peak to peak)
・光源:150W Xeランプ
・測定波長範囲:200~750nm
・波長走査速度:30~60,000nm/min
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