共用設備検索結果
電子ビーム描画装置 [JBX-8100FS] (EB Lithography [JBX-8100FS])
- 設備ID
- NM-661
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![電子ビーム描画装置 [JBX-8100FS]](data/facility_item/1701398235_11.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JBX-8100FS
- 仕様・特徴
- 1. 最高加速電圧200kV
2. クロック周波数125MHz
3. 12カセット自動搬送
4. 最大8インチウェハ対応
赤外線ランプ加熱装置 [RTP-6 #3] (RTA [RTP-6 #3])
- 設備ID
- NM-634
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![赤外線ランプ加熱装置 [RTP-6 #3]](data/facility_item/1673319163_10.jpg)
- メーカー名
- アドバンス理工株式会社 (ADVANCE RIKO)
- 型番
- RTP-6
- 仕様・特徴
- ・用途：多目的熱処理プロセス
・加熱方式：赤外線ランプによる上部片面加熱
・プロセス温度：1200℃以下
・昇温速度：10℃/秒以下
・プロセスガス：N2,O2,Ar+3%H2
・最大試料サイズ：φ6inch
・その他：タッチパネル操作系
SiO2プラズマCVD装置 [PD-220NL] (SiO2 PECVD [PD-220NL])
- 設備ID
- NM-633
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![SiO2プラズマCVD装置 [PD-220NL]](data/facility_item/1673319140_10.jpg)
- メーカー名
- サムコ (samco)
- 型番
- PD-220NL
- 仕様・特徴
- ・プラズマ方式：平行平板型
・電源出力：30-300W
・原料：TEOS (SiO2)
・成膜温度：400度以下
・最大試料サイズ：φ8inch
NMR (NMR)
- 設備ID
- NM-001
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ECS-400
- 仕様・特徴
- ・共鳴周波数：400MHz
・プローブ：多核種対応（1H, 13C, 15N～31P, 19F, 39K, 109Ag）
・温調：あり
・溶液サンプル専用
LC-MS (LC-MS)
- 設備ID
- NM-002
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Q-Exactive Plus
- 仕様・特徴
- ・イオン化方式：ESI
・質量検出方式：Orbitrap
・測定質量範囲：50～6,000 m/z
・オートサンプラー：あり
・タンパク同定ソフト：MASCOT
ラマン顕微鏡 (Raman microscope)
- 設備ID
- NM-003
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- レニショー (Renishaw)
- 型番
- inVia Reflex
- 仕様・特徴
- ・ラインレーザー照射による高速ラマンイメージング。
・繋ぎ目のない連続した広い波数範囲のスペクトル測定。
・共焦点機構による高い空間分解能。
・レーザー波長：532nm及び785nm
・波数分解能：0.3cm-1
・空間分解能：水平0.25µm、垂直1µm
・対物レンズ：5倍、20倍、50倍、63倍(水浸)、100倍
・温度制御：-196～600℃
共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡 (Confocal laser scanning fluorescence microscope)
- 設備ID
- NM-004
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- ライカマイクロシステムズ (Leica Microsystems)
- 型番
- SP5
- 仕様・特徴
- ・対物レンズ：10倍、20倍、40倍、63倍
・高速モード撮影時：秒/250コマ撮影
・高解像モード撮影時：8000×8000撮影が可能
・励起光源：405nm、458nm、476nm、488nm、514nm, 543nm、633nm
液中原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope (AFM) in liquid)
- 設備ID
- NM-005
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- NanoWizard 4 XP
- 仕様・特徴
- 【AFM測定】
・液中観察：可
・走査範囲：水平100µm、垂直15µm
・動作モード：コンタクトモード、タッピングモード、フォースカーブマッピングモード、粘弾性測定、MFM観察
【直上顕微鏡】
・観察倍率：10倍
【倒立顕微鏡】
・観察法：明視野、位相差、蛍光
・対物レンズ：10倍、40倍
【その他】
・温度制御：室温＋60℃まで
卓上走査型電子顕微鏡装置群 (Tabletop scanning electron microscope (SEM))
- 設備ID
- NM-006
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- Miniscope TM4000PlusII Miniscope TM3000
- 仕様・特徴
- 【TM4000PlusII】
・倍率：10倍~10万倍
・加速電圧 : 5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
・画像信号 : 反射電子, 二次電子
・真空モード：導電体（反射電子のみ）、標準、帯電軽減
・EDX：あり
【TM3000】
・倍率：15倍～3万倍
・加速電圧 : 5 kV、15 kV
・画像信号 : 反射電子のみ
・観察モード：通常、帯電軽減
・EDX：あり
表面プラズモン共鳴装置 (Surface plasmon resonance (SPR) instrument)
- 設備ID
- NM-007
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サイティバ (Cytiva)
- 型番
- Biacore X100
- 仕様・特徴
- ・非標識で分子間相互作用解析が可能。
・ベースラインノイズ：<0.1 RU (RMS)
・フローセル容量：0.06 µL
・データ取得間隔：1 Hz
・測定温度：25℃（固定）
・オートサンプラー：最大15サンプル