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液中原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope (AFM) in liquid)
- 設備ID
- NM-005
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- NanoWizard 4 XP
- 仕様・特徴
- 【AFM測定】
・液中観察：可
・走査範囲：水平100µm、垂直15µm
・動作モード：コンタクトモード、タッピングモード、フォースカーブマッピングモード、粘弾性測定、MFM観察
【直上顕微鏡】
・観察倍率：10倍
【倒立顕微鏡】
・観察法：明視野、位相差、蛍光
・対物レンズ：10倍、40倍
【その他】
・温度制御：室温＋60℃まで
走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR] (SPM [Jupiter XR])
- 設備ID
- NM-622
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR]](data/facility_item/NM-622.jpg)
- メーカー名
- オックスフォード・インストゥルメンツ (Oxford Instruments)
- 型番
- Jupiter XR
- 仕様・特徴
- ・用途：ナノ構造の計測
・評価・測定モード：形状測定、メカニカル測定、電気測定、磁気測定、等
・走査範囲：90um
・ステージ可動範囲：200mm角
・最大試料サイズ：φ8inch
パーク・システムズAFM (Park systems AFM)
- 設備ID
- TU-319
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- パーク・システムズ (Park systems)
- 型番
- NX20
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～8インチ
小型原子間力顕微鏡 (Atomin Force Microscope (AFM))
- 設備ID
- UT-859
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
- 型番
- SPA400+SPI4000
- 仕様・特徴
- 日立ハイテクサイエンス(旧SII社製)AFM。試料サイズ：φ35mm厚み10mm、スキャナー走査範囲：150μm×150μm（高さ5μm）、20μm×20μm（高さ1.5μm）、AFMモード、DFMモード
原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope)
- 設備ID
- NU-204
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker AXS (Bruker AXS)
- 型番
- Dimension3100
- 仕様・特徴
- ・スキャン領域：XY方向 約90μm，Z方向 約6μm
・試料サイズ：最大150 mmφ－12 mmT
・測定モード AFM，MFM，EFM，LFM，表面電位顕微鏡，電流像
高速液中原子間力顕微鏡 (Liquid-Enviroment High Speed AFM)
- 設備ID
- KT-303
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)生体分子計測研究所 (Research Institute of Biomolecule Metrology Co., Ltd.)
- 型番
- NanoLiveVision NLV-KS
- 仕様・特徴
- 10fpsの動画観察可能な原子間力顕微鏡
・推奨凹凸高さ 30 nm以下
・試料形状例 Φ1.5mm雲母板表面に吸着
・測定環境 液中観察
走査型プローブ顕微鏡システム (Bioscience Atomic Force Microscope)
- 設備ID
- KT-304
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- JPKインスツルメンツ社 (JPK Instruments AG)
- 型番
- NanoWizard III
- 仕様・特徴
- 大気中または液体中でのAFM計測
AFM測定と光学測定を同時実行可能
・NW3-XS-0ほか
走査型プローブ顕微鏡装置群 (Scanning Probe Microscope)
- 設備ID
- KU-510
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所、エスアイアイ・ナノテクノロジー (Shimazu, Seiko Instruments)
- 型番
- SPM9600, SPI3800N
- 仕様・特徴
- 【SPM9600】
・分解能 水平0.2nm 垂直0.01nm
・測定モード ：コンタクト、ダイナミック、位相
【環境制御型多機能走査プローブ顕微鏡：SPI3800N】
・環境：大気中、液中、真空中、ガス雰囲気
・温度制御: 自動加熱・冷却(-120～250℃)
・位相、摩擦、粘弾性、電流、etc.
走査型プローブ顕微鏡 （SPM) (Scanning probe microscope (SPM))
- 設備ID
- CT-009
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- MultiMode 8J
- 仕様・特徴
- ・大気中、液中イメージングが可能
・ナノ機械特性（弾性率、吸着力）、ナノ電気特性（表面電位、導電性）の測定が可能
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
- 設備ID
- BA-006
- 設置機関
- 筑波大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker (Bruker)
- 型番
- Dimension Icon
- 仕様・特徴
- 形状測定モード:
タッピングモード, コンタクトモード
物性測定モード：
電気・磁気特性（EFM/SSRM/KPFM/MFM他）
機械特性（粘弾性/水平力）
試料サイズ：直径 <Φ150mm, 厚さ <10mm
最大スキャン範囲：XY 90μmx90μm, Z 10μm
Z方向ノイズ：0.03nm RMS
測定環境：大気中, 液中（要相談）