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マルチビーム超高圧電子顕微鏡 (Multi-Beam HVEM)

設備ID
HK-103
設置機関
北海道大学
設備画像
マルチビーム超高圧電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
ARM-1300
仕様・特徴
・加速電圧:1250kV
・TEM分解能:0.12nmn
・LaB6熱電子銃
・300K、400Kイオン加速器
・ナノ秒パルスレーザー
・He-Cd CWレーザー
・フェムト秒レーザー
・CCD分光器
・遠隔観察
設備状況
稼働中

電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscope )

設備ID
KU-001
設置機関
九州大学
設備画像
電子分光型超高圧分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-1300NEF
仕様・特徴
オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV、電子線トモグラフィ、レーザーパルス光照射、その場観察、冷却・加熱引張試験
設備状況
稼働中

反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡システム (Reaction science high-voltage scanning transmission electron microscope (RS-HVSTEM))

設備ID
NU-101
設置機関
名古屋大学
設備画像
反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡システム
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-1000K RS
仕様・特徴
加速電圧:1000kV
ガス環境実験:最大ガス圧10,000Pa
HVEM-STEM機能
TEM分解能:0.14nm
STEM分解能:1nm
設備状況
稼働中

3MV超高圧電子顕微鏡 (3MV Ultra-High Voltage Electron Microscope)

設備ID
OS-001
設置機関
大阪大学
設備画像
3MV超高圧電子顕微鏡
メーカー名
(株)日立製作所 (Hitachi, Ltd.)
型番
H-3000
仕様・特徴
加速電圧3MV
設備状況
稼働中

1MV物質・生命科学超高圧電子顕微鏡 (1MV Materials- and Bio-Science UHVEM)

設備ID
OS-002
設置機関
大阪大学
設備画像
1MV物質・生命科学超高圧電子顕微鏡
メーカー名
日本電子(株) (JEOL Ltd.)
型番
JEM-1000EES
仕様・特徴
加速電圧1MV、TEM、STEM、EELS、試料冷却機能
設備状況
稼働中

原子直視型超高圧電子顕微鏡 (Ultra-high voltage electron microscope)

設備ID
UT-401
設置機関
東京大学
設備画像
原子直視型超高圧電子顕微鏡
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番
JEM-ARM1250
仕様・特徴
□主な仕様
(1)本体
加速電圧 : 400、600、800、1,000、1,250kV
電子線源 : 単結晶LaB6
焦点距離 : 8.2mm
球面収差係数 : 1.4mm
色収差係数 : 2.5mm
分解能 : 0.1nm(粒子像)
試料最大傾斜角 : ±35°
真空度 : 7×10-6Pa以下(試料室)
排気方式 : ターボ分子、イオン、クライオポンプ併 用(完全ドライ方式)
(2)電子線損傷低減装置(MDS) 組込
(3)画像記録 シートフィルムおよびイメージングプレート(25μm/ピクセル)
(4)収束電子線回折装置 組込
収束角(2α)/最小スポット径 :
4.0mrad./15nm~2.0mrad./30nm
最大加速電圧 : 1,250kV
最大試料傾斜角 : ±25°
設備状況
稼働中
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