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ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 (Double Cs-corrected scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-101
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本FEI (FEI)
- 型番
- Titan3 G2 60-300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧:60kV-300kV
・TEM分解能:0.07nm、STEM分解能:0.07nm
・X-FEG電子銃
・モノクロメーター搭載
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・Super-X EDS検出器
・Gatan GIF QuantumER分光器
・分析試料ホルダー、トモグラフィー試料ホルダー
・遠隔観察
・遠隔オペレーション
- 設備状況
- 稼働中
量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置 (Microscopic measuring equipment for physical properties on quantum/electronic controlled nano-materials)
- 設備ID
- HK-107
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F NEOARM
- 仕様・特徴
- ・加速電圧:80kV-200kV
・TEM分解能:0.1nm、STEM分解能:0.07nm
・冷陰極電界放出型電子銃
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・HAADF-ABF同時取得機能
・EDS検出器
・加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー
- 設備状況
- 稼働中
収差補正走査型透過電子顕微鏡 (Cs-corrected scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-401
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察
- 設備状況
- 稼働中
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-402
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧:200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能:EDS、EELS
- 設備状況
- 稼働中
原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)
- 設備ID
- JI-008
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:200 kV
電子銃 ショットキー型電界放出銃
分解能:
0.08 nm(走査透過像)
0.19 nm(透過顕微鏡 粒子像)
0.10 nm(透過顕微鏡 格子像)
EDS、EELSによる組成分析機能付
照射系収差補正装置:組み込み
UHR仕様
- 設備状況
- 稼働中
収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )
- 設備ID
- KU-002
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
- 設備状況
- 稼働中
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope)
- 設備ID
- KU-004
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200CF
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS(100mm2 SDD2機搭載 立体角1.7sr)/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧:30, 60, 80, 120, 200kV、その場観察、 加熱・冷却・電圧印加・ガス雰囲気
- 設備状況
- 稼働中
収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )
- 設備ID
- KU-007
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
- 設備状況
- 稼働中
ハイコントラスト補助電子顕微鏡 (Conventional high contrast electron microscope)
- 設備ID
- KU-009
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100HCKM
- 仕様・特徴
- 組織観察/電子解析図形収集の汎用機、加速電圧:100,120,200kV、CMOSカメラ(4K)
- 設備状況
- 稼働中
三次元原子分解能透過電子顕微鏡 (3D analyltical STEM/TEM)
- 設備ID
- KU-010
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Titan G2 60-300
- 仕様・特徴
- 電子銃モノクロメータ、トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中