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ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 (Double Cs-corrected scanning transmission electron microscope)

設備ID
HK-101
設置機関
北海道大学
設備画像
ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡
メーカー名
日本FEI (FEI)
型番
Titan3 G2 60-300
仕様・特徴
・加速電圧:60kV-300kV
・TEM分解能:0.07nm、STEM分解能:0.07nm
・X-FEG電子銃
・モノクロメーター搭載
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・Super-X EDS検出器
・Gatan GIF QuantumER分光器
・分析試料ホルダー、トモグラフィー試料ホルダー
・遠隔観察
・遠隔オペレーション
設備状況
稼働中

量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置 (Microscopic measuring equipment for physical properties on quantum/electronic controlled nano-materials)

設備ID
HK-107
設置機関
北海道大学
設備画像
量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F NEOARM
仕様・特徴
・加速電圧:80kV-200kV
・TEM分解能:0.1nm、STEM分解能:0.07nm
・冷陰極電界放出型電子銃
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・HAADF-ABF同時取得機能
・EDS検出器
・加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー
設備状況
稼働中

収差補正走査型透過電子顕微鏡 (Cs-corrected scanning transmission electron microscope)

設備ID
HK-401
設置機関
北海道大学
設備画像
収差補正走査型透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
仕様・特徴
加速電圧:80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察
設備状況
稼働中

走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)

設備ID
HK-402
設置機関
北海道大学
設備画像
走査型透過電子顕微鏡
メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
HD-2000
仕様・特徴
加速電圧:200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能:EDS、EELS
設備状況
稼働中

原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)

設備ID
JI-008
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
設備画像
原子分解能走査透過型電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
仕様・特徴
加速電圧:200 kV
電子銃 ショットキー型電界放出銃
分解能:
0.08 nm(走査透過像)
0.19 nm(透過顕微鏡 粒子像)
0.10 nm(透過顕微鏡 格子像)
EDS、EELSによる組成分析機能付
照射系収差補正装置:組み込み
UHR仕様
設備状況
稼働中

収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )

設備ID
KU-002
設置機関
九州大学
設備画像
収差補正走査/透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
仕様・特徴
照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
設備状況
稼働中

広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope)

設備ID
KU-004
設置機関
九州大学
設備画像
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200CF
仕様・特徴
照射系・結像系の収差補正、EDS(100mm2 SDD2機搭載 立体角1.7sr)/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧:30, 60, 80, 120, 200kV、その場観察、 加熱・冷却・電圧印加・ガス雰囲気
設備状況
稼働中

収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )

設備ID
KU-007
設置機関
九州大学
設備画像
収差補正高分解能電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
仕様・特徴
走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
設備状況
稼働中

ハイコントラスト補助電子顕微鏡 (Conventional high contrast electron microscope)

設備ID
KU-009
設置機関
九州大学
設備画像
ハイコントラスト補助電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100HCKM
仕様・特徴
組織観察/電子解析図形収集の汎用機、加速電圧:100,120,200kV、CMOSカメラ(4K)
設備状況
稼働中

三次元原子分解能透過電子顕微鏡 (3D analyltical STEM/TEM)

設備ID
KU-010
設置機関
九州大学
設備画像
三次元原子分解能透過電子顕微鏡
メーカー名
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
型番
Titan G2 60-300
仕様・特徴
電子銃モノクロメータ、トモグラフィー
設備状況
稼働中
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