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球面収差補正透過電子顕微鏡 (Spherical-aberration-corected transmission electron microscope)

設備ID
KT-402
設置機関
京都大学
設備画像
球面収差補正透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2200FS
仕様・特徴
結像系の球面収差補正装置とインカラム型オメガフィルターを搭載した高分解能分析電子顕微鏡。
・加速電圧:200kV
・電子銃:ショットキー型
・TEM分解能:0.2nm
・エネルギー分解能:0.8eV
・分析機能:EELS

透過型電子顕微鏡装置群 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
KU-512
設置機関
九州大学
設備画像
透過型電子顕微鏡装置群
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2010、JASM-6200
仕様・特徴
【JEM-2010】
・最高加速電圧:200kV、点分解能:0.23nm
・加速電圧:120, 200kV
【付帯設備:ウルトラミクロトームEM UC7 Leica社製】
・薄片試料の作成に最適
・実体顕微鏡
・室温のみ対応
【JASM-6200】
・液中観察(大気圧下観察)
・×10~100,000倍観察
・明視野、蛍光観察 (光学顕微鏡)
・電磁2段ズームコンデンサレンズ

電界放射型分析電子顕微鏡 (Analytical FEG-TEM)

設備ID
HK-102
設置機関
北海道大学
設備画像
電界放射型分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2010F
仕様・特徴
・加速電圧:200kV
・TEM分解能:0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能:EDS、EELS
・遠隔観察

環境セル対応透過電子顕微鏡 (Transmission electron microscope for Environmental cell (E-TEM))

設備ID
HK-301
設置機関
北海道大学
設備画像
環境セル対応透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2010
仕様・特徴
加速電圧:200kV
分析機能:EDS
環境セル加熱ホルダー装備

透過型電子顕微鏡(TEM) (Transmission electron microscope (TEM))

設備ID
CT-012
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
透過型電子顕微鏡(TEM)
メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
H-7600
仕様・特徴
・加速電圧:120 kV
・冷却フォルダー(-120 ℃)

透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)

設備ID
UE-017
設置機関
電気通信大学
設備画像
透過型電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F
仕様・特徴
加速電圧: 200kV, 格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm

透過電子顕微鏡 (TEM)

設備ID
JI-009
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
設備画像
透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100Plus
仕様・特徴
【半遠隔利用可】
加速電圧:60, 100, 120, 200kV
EDSによる組成分析機能付
UHR仕様

ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡 (Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM))

設備ID
SH-001
設置機関
信州大学
設備画像
ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F
仕様・特徴
球面収差補正装置: EM-Z07167T 2段つき
加速電圧:80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中)
分析機能:EELS、EDS

原子分解能分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope )

設備ID
SH-003
設置機関
信州大学
設備画像
原子分解能分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F NEOARM
仕様・特徴
分解能STEM-HAADF 0.078nm(200kV)
加速電圧 30、80、200kV
自動収差補正システム

電界放出形透過型電子顕微鏡 (Field emission transmission electron microscope)

設備ID
MS-203
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
設備画像
電界放出形透過型電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F
仕様・特徴
電子銃 フィールドエミッション
加速電圧 200kV
分解能 0.23nm(粒子像)、0.1nm(格子像)
倍率 X2,000 ~ X1,500,000
試料 3mmφ以内
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