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実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 (Real working environmental electron holography microscope)
- 設備ID
- NM-502
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F-B
- 仕様・特徴
- ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・Cold FEG
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中
200kV電界放出形透過電子顕微鏡（JEM-2100F1） (200kV field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- NM-503
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F1
- 仕様・特徴
- ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中
200kV電界放出形透過電子顕微鏡（JEM-2100F2） (200kV field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- NM-504
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F2
- 仕様・特徴
- ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中
200kV透過電子顕微鏡 (200kV transmission electron microscope)
- 設備ID
- NM-505
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100
- 仕様・特徴
- ・熱電子銃
・加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中
200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM))
- 設備ID
- NR-203
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2200FS
- 仕様・特徴
- ・加速電圧： 200kV
・倍率： 1,200～600,000倍（分解能：0.31nm）
・オプション：
動画観察システム
- 設備状況
- 稼働中
電界放出型200kV高分解能電子顕微鏡 (200kV high-resolution FEG-TEM)
- 設備ID
- OS-008
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HF-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、HRTEM
- 設備状況
- 稼働中
200kV回折コントラスト電子顕微鏡 (200kV diffraction-contrast TEM)
- 設備ID
- OS-009
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-800
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、回折コントラスト実験
- 設備状況
- 稼働中
120kVマルチマテリアル用電顕 (120kV Materials- and Bio-Science TEM)
- 設備ID
- OS-011
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子（株） (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-1400Flash
- 仕様・特徴
- 加速電圧 120kV、モンタージュ撮影、ミニマムドーズシステム（MDS）
- 設備状況
- 稼働中
ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡 (Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM))
- 設備ID
- SH-001
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ＪＥＭ-2100Ｆ
- 仕様・特徴
- 球面収差補正装置： EM-Z07167T 2段つき
加速電圧：80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中)
分析機能：EELS、EDS
- 設備状況
- 稼働中
原子分解能分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope )
- 設備ID
- SH-003
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F NEOARM
- 仕様・特徴
- 分解能STEM-HAADF 0.078nm（200kV）
加速電圧 30、80、200kV
自動収差補正システム
- 設備状況
- 稼働中