共用設備検索

共用設備検索結果

フリーワード検索

超高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
TU-503
設置機関
東北大学
設備画像
超高分解能分析電子顕微鏡
メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
型番
Titan3 60-300 (probe)
仕様・特徴
・加速電圧 300 kV/60 kV
・球面収差補正装置(照射系)
・EDS分析(30 mm2 検出器 ×4=120 mm2)

超高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
TU-504
設置機関
東北大学
設備画像
超高分解能透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
仕様・特徴
・加速電圧 200 kV/80 kV
・球面収差補正装置(照射系、結像系)
・EDS分析(検出器=100 mm2)
・EELS分光器 エネルギー分解能 0.35 eV
・高傾斜一軸ホルダー

分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
TU-516
設置機関
東北大学
設備画像
分析電子顕微鏡
メーカー名
トプコン株式会社 (Topcon)
型番
EM-002B
仕様・特徴
・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDS点分析・マッピング
・プリセッション回折

透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
TU-517
設置機関
東北大学
設備画像
透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2000EXⅡ
仕様・特徴
・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・試料加熱ホルダー(最高温度 約800 ℃)
・試料冷却ホルダー(最低温度 約-170 ℃)

超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM) (Ultra-high-resolution transmission electron microscope)

設備ID
UT-003
設置機関
東京大学
設備画像
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番
JEM-ARM200F Cold FE
仕様・特徴
□ 主な特長
・ 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解
能が0.11nmまで向上
・ 高圧、対物電流の変動を従来機の50%に抑制し、電気的安定度を大幅に向上
・ 鏡筒径を大きくし剛性を高めるとともに、架台の構造を最適化し、装置全体の機械的強度を従来機の約2倍に強化し、機械的安定度を向上
・ 熱および磁気シールドを標準装備。また、装置周囲の対流の変化による鏡筒表面の温度変化を防ぐために、鏡筒全体をカバーで被覆
□ 主な仕様
・ 加速電圧:200kV、120kV、100kV、80kV、60kV
・ 分解能:粒子像透過顕微鏡分解能 0.10nm(加速電圧200kV)
・ 倍率:走査透過像 200~150,000,000倍
・ 透過顕微鏡像 50~2,000,000倍
・ 収差補正装置:結像系球面収差補正装置
・ 検出器:CCDカメラ、CMOSカメラ×2

高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡 (Top-entry Transmission electron microscope)

設備ID
UT-008
設置機関
東京大学
設備画像
高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番
JEM-2000EX
仕様・特徴
□ 主な仕様
(1)本体
加速電圧 : 80、100、120、160、200kV
電子線源 : 単結晶LaB6
分解能 : 0.1nm(格子像)
試料最大傾斜角 : ±10°
排気方式 : 油拡散ポンプ
(2)画像記録 シートフィルム

ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)

設備ID
UT-009
設置機関
東京大学
設備画像
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番
JEM-2010HC
仕様・特徴
□ 主な仕様
(1)本体
加速電圧 : 80、100、120、160、200kV
電子線源 : 単結晶LaB6
試料最大傾斜角 : ±30°
試料移動 : モーター駆動(X、Y、Z)
排気方式 : ターボ分子ポンプ(TMP)
(2)画像記録 シートフィルムおよびデジタル画像
(3)分析機能:EDS

有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (Bio-TEM)

設備ID
UT-011
設置機関
東京大学
設備画像
有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番
JEM-1400
仕様・特徴
□ 主な仕様
・ 分解能<0.38nm
・ オートフォーカス及び自動モンタージュ機能(自動つなぎ合わせ及び自動コントラスト補正)
・ 自動モンタージュは縦5枚×横5枚(合計2500万画素)が可能で、分解能を維持したままの大面積観察・超高速スクリーニングに対応可能。
・加速電圧:120kV

高分解能透過型分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)

設備ID
UT-402
設置機関
東京大学
設備画像
高分解能透過型分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番
JEM-4010
仕様・特徴
(1)本体
加速電圧 : 100、150、200、250、300、350、400kV
電子線源 : 単結晶LaB6
焦点距離 : 3. 1mm
球面収差係数 : 0.7mm
色収差係数 : 1.6mm
分解能 : 0.155nm(粒子像)
試料最大傾斜角 :±25°
真空度 : 3×10-5Pa以下(試料室)
排気方式 : イオン、油拡散ポンプ
(2)電子線損傷低減装置(MDS) 組込
(3)画像記録 シートフィルムおよびイメージングプレート(25μm/ピクセル)
(4)分析装置
エネルギーロス型分光器(PEELS) : 組込
エネルギー分散型分光器(EDS) : 組込

極低温透過電子顕微鏡 (Ultralow-temperature high-resolution transmission electron microscope)

設備ID
KT-401
設置機関
京都大学
設備画像
極低温透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F(G5)
仕様・特徴
液体ヘリウム冷却ステージを内蔵したクライオ電顕。溶液内のナノ集合体や有機材料の照射損傷を低減した観察が可能。クライオトランスファー機構装備。
・加速電圧:200kV
・電子銃:ショットキー型
・TEM分解能:0.2nm
・冷却温度:4.2K
スマートフォン用ページで見る