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透過型電子顕微鏡（TEM） (Transmission electron microscope (TEM))
- 設備ID
- CT-012
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-7600
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：120 kV
・冷却フォルダー（-120 ℃）
- 設備状況
- 稼働中
電界放射型分析電子顕微鏡 (Analytical FEG-TEM)
- 設備ID
- HK-102
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：200kV
・TEM分解能：0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能：EDS、EELS
・遠隔観察
- 設備状況
- 稼働中
環境セル対応透過電子顕微鏡 (Transmission electron microscope for Environmental cell (E-TEM))
- 設備ID
- HK-301
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200kV
分析機能：EDS
環境セル加熱ホルダー装備
- 設備状況
- 稼働中
透過電子顕微鏡 (TEM)
- 設備ID
- JI-009
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100Plus
- 仕様・特徴
- 【半遠隔利用可】
加速電圧：60, 100, 120, 200kV
EDSによる組成分析機能付
UHR仕様
- 設備状況
- 稼働中
極低温透過電子顕微鏡 (Ultralow-temperature high-resolution transmission electron microscope)
- 設備ID
- KT-401
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F(G5)
- 仕様・特徴
- 液体ヘリウム冷却ステージを内蔵したクライオ電顕。溶液内のナノ集合体や有機材料の照射損傷を低減した観察が可能。クライオトランスファー機構装備。
・加速電圧：200kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.2nm
・冷却温度：4.2K
- 設備状況
- 稼働中
球面収差補正透過電子顕微鏡 (Spherical-aberration-corected transmission electron microscope)
- 設備ID
- KT-402
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2200FS
- 仕様・特徴
- 結像系の球面収差補正装置とインカラム型オメガフィルターを搭載した高分解能分析電子顕微鏡。
・加速電圧：200kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.2nm
・エネルギー分解能：0.8eV
・分析機能：EELS
- 設備状況
- 稼働中
モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡 (Monochromated atomic resolution analytical electron microscope)
- 設備ID
- KT-403
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系と結像系に球面収差補正装置を搭載し、電子銃にはモノクロメータが組み込まれた高エネルギー分解能原子直視型分析電子顕微鏡。分析機能はEELSとEDSを装備。
・加速電圧：200kV、60kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.1nm
・STEM分解能：0.08nm
・エネルギー分解能：0.03eV
・分析機能：EELS、EDS
- 設備状況
- 稼働中
透過型電子顕微鏡装置群 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- KU-512
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010、JASM-6200
- 仕様・特徴
- 【JEM-2010】
・最高加速電圧：200kV、点分解能：0.23nm
・加速電圧：120, 200kV
【付帯設備：ウルトラミクロトームEM UC7 Leica社製】
・薄片試料の作成に最適
・実体顕微鏡
・室温のみ対応
【JASM-6200】
・液中観察(大気圧下観察)
・×10～100,000倍観察
・明視野、蛍光観察 (光学顕微鏡)
・電磁２段ズームコンデンサレンズ
- 設備状況
- 稼働中
電界放出形透過型電子顕微鏡 (Field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- MS-203
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 電子銃 フィールドエミッション
加速電圧 200kV
分解能 0.23nm（粒子像）、0.1nm（格子像）
倍率 X2,000 ～ X1,500,000
試料 3mmφ以内
- 設備状況
- 稼働中
実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM)
- 設備ID
- NM-501
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F-G
- 仕様・特徴
- ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・ショットキーFEG
・加速電圧: 80, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中