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透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
TU-520
設置機関
東北大学
設備画像
透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100Plus
仕様・特徴
・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDSマッピング

広空間・高分解能分析電子顕微鏡 (Analytical transmission electron microscope)

設備ID
NM-301
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
広空間・高分解能分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM300F
仕様・特徴
金属・セラミックス試料の組成,化学状態,結晶方位等の局所分析およびマップ取得が可能.
・加速電圧:300kV, 200kV, 120kV, 80kV
・球面収差補正(イメージおよびプローブのダブルコレクタ)
・大口径EDS検出器(158mm2 x 2本)
・エネルギーフィルター(Gatan ContinuumER)
・プリセッション電子回折を用いた結晶方位測定システム(ASTAR)

300kV収差補正電子顕微鏡 (Analytical apparatus for electron beam sensitive materials)

設備ID
NM-401
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
300kV収差補正電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL )
型番
JEM-ARM300F
仕様・特徴
・加速電圧 60, 80, 300kV
・TEM非線形情報限界 60pm
・TEM格子分解能 50pm
・STEM空間分解能 58pm
・CMOSカメラ 動画撮影機能搭載
・デュアルEDS検出器 合計立体角1.2Sr
・EELS エネルギー分解能0.7eV

実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM)

設備ID
NM-501
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
実動環境対応物理分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F-G
仕様・特徴
・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・ショットキーFEG
・加速電圧: 80, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー

実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 (Real working environmental electron holography microscope)

設備ID
NM-502
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F-B
仕様・特徴
・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・Cold FEG
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー

200kV電界放出形透過電子顕微鏡 (200kV field emission transmission electron microscope)

設備ID
NM-503
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
200kV電界放出形透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F1
仕様・特徴
・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー

200kV電界放出形透過電子顕微鏡 (200kV field emission transmission electron microscope)

設備ID
NM-504
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
200kV電界放出形透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F2
仕様・特徴
・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー

200kV透過電子顕微鏡 (200kV transmission electron microscope)

設備ID
NM-505
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
200kV透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100
仕様・特徴
・熱電子銃
・加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー

高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
TU-501
設置機関
東北大学
設備画像
高分解能透過電子顕微鏡
メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
型番
Titan 80-300
仕様・特徴
・加速電圧 300 kV/80 kV
・球面収差補正装置(結像系)
・EDS分析(検出器=30 mm2
・高傾斜一軸ホルダー

超高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)

設備ID
TU-502
設置機関
東北大学
設備画像
超高分解能分析電子顕微鏡
メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
型番
Titan3 60-300 (double)
仕様・特徴
・加速電圧 300 kV/60 kV
・球面収差補正装置(照射系、結像系)
・EDS分析(30 mm2 検出器 ×4=120 mm2)
・エネルギー分解能 0.30 eV/0.85 eV (mono on/off)
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