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共用設備検索結果
"透過電子顕微鏡"で検索した結果 73件
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- 設備ID
- TU-520
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100Plus
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDSマッピング
- 設備ID
- NM-301
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM300F
- 仕様・特徴
- 金属・セラミックス試料の組成，化学状態，結晶方位等の局所分析およびマップ取得が可能．
・加速電圧：300kV, 200kV, 120kV, 80kV
・球面収差補正(イメージおよびプローブのダブルコレクタ)
・大口径EDS検出器(158mm2 x 2本)
・エネルギーフィルター(Gatan ContinuumER)
・プリセッション電子回折を用いた結晶方位測定システム(ASTAR)
- 設備ID
- NM-401
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL )
- 型番
- JEM-ARM300F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 60, 80, 300kV
・TEM非線形情報限界 60pm
・TEM格子分解能 50pm
・STEM空間分解能 58pm
・CMOSカメラ 動画撮影機能搭載
・デュアルEDS検出器 合計立体角1.2Sr
・EELS エネルギー分解能0.7eV
- 設備ID
- NM-402
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本エフイー・アイ (FEI)
- 型番
- FEI Titan Cubed
- 仕様・特徴
- ・加速電圧80kV－300kV
・分解能70pm (300kV)
・エネルギー分解能80meV (80kV)
・ダブルコレクター
・モノクロメータ
- 設備ID
- NM-501
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F-G
- 仕様・特徴
- ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・ショットキーFEG
・加速電圧: 80, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-502
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F-B
- 仕様・特徴
- ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・Cold FEG
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-503
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F1
- 仕様・特徴
- ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-504
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F2
- 仕様・特徴
- ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-505
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100
- 仕様・特徴
- ・熱電子銃
・加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-506
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- DENSsolutions (DENSsolutions)
- 型番
- Lightning
- 仕様・特徴
- ・加熱最大温度1300℃
・バイアス印可最大電圧150V
"透過電子顕微鏡"で検索した結果 73件
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