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単結晶X線構造解析装置 (Single Crystal X-ray Diffractometer)

設備ID
TU-613
設置機関
東北大学
設備画像
単結晶X線構造解析装置
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
XtaLAB Synergy
仕様・特徴
・型式:回転対陰極方式
・最大定格出力:1.2 kW
・ターゲット:2色管球 Cu/Mo
・X線光学系:集光型人工多層膜 集光ミラー
・ゴニオメーター:χ軸;-179°~+179°、2θ軸測角範囲;-100°~+120°
・検出器:HyPiX-6000HE

X線回折装置(XRD) (X-ray diffractometer (XRD))

設備ID
CT-033
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
X線回折装置(XRD)
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
D8 DISCOVER
仕様・特徴
・1次元粉末X線測定モジュール
・2次元広角/小角X線測定モジュール
・超小角(USAXS)測定モジュール
・GI-WAXD/SAXS測定モジュール
・高温試料チャンバー(室温~1100℃)

多環境場対応型X線単結晶構造解析装置 (Single Crystal X-ray Diffractometer for Multiple Environments)

設備ID
NM-201
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
多環境場対応型X線単結晶構造解析装置
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
XtaLAB Synergy-R/DW Custom
仕様・特徴
1. 単結晶X線構造解析装置本体(Mo KαおよびCu Kα線源、定格最大出力2.9 kW)
2. ガス吹付型試料冷却装置(30 ~ 300 K)
3. ガス吹付型試料加熱装置(300 ~ 1073 K)
4. 元素分析アタッチメント(P以上)
5. 遠隔操作(除く試料交換&センターリング)

高輝度・高感度型粉末X線回折装置 (High-power and high-sensitivity type powder X-ray diffractometer)

設備ID
NM-204
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
高輝度・高感度型粉末X線回折装置
メーカー名
(株)リガク (Rigaku Corporation)
型番
SmartLab 9 kW
仕様・特徴
・温度可変(1773 K ~ RT、873 K ~ 100 K、RT ~ 2.6 K )
・雰囲気制御可能(Air、N2、O2、Ar、He、TMPレベル真空)
・引っ張り試験機(最大:5 N)
・α-β-γ軸付きゴニオメーター

広空間・高分解能分析電子顕微鏡 (Analytical transmission electron microscope)

設備ID
NM-301
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
広空間・高分解能分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM300F
仕様・特徴
金属・セラミックス試料の組成,化学状態,結晶方位等の局所分析およびマップ取得が可能.
・加速電圧:300kV, 200kV, 120kV, 80kV
・球面収差補正(イメージおよびプローブのダブルコレクタ)
・大口径EDS検出器(158mm2 x 2本)
・エネルギーフィルター(Gatan ContinuumER)
・プリセッション電子回折を用いた結晶方位測定システム(ASTAR)

300kV収差補正電子顕微鏡 (Analytical apparatus for electron beam sensitive materials)

設備ID
NM-401
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
300kV収差補正電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL )
型番
JEM-ARM300F
仕様・特徴
・加速電圧 60, 80, 300kV
・TEM非線形情報限界 60pm
・TEM格子分解能 50pm
・STEM空間分解能 58pm
・CMOSカメラ 動画撮影機能搭載
・デュアルEDS検出器 合計立体角1.2Sr
・EELS エネルギー分解能0.7eV

単原子分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope)

設備ID
NM-402
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
単原子分析電子顕微鏡
メーカー名
日本エフイー・アイ (FEI)
型番
FEI Titan Cubed
仕様・特徴
・加速電圧80kV-300kV
・分解能70pm (300kV)
・エネルギー分解能80meV (80kV)
・ダブルコレクター
・モノクロメータ

実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM)

設備ID
NM-501
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
実動環境対応物理分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F-G
仕様・特徴
・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・ショットキーFEG
・加速電圧: 80, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー

実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 (Real working environmental electron holography microscope)

設備ID
NM-502
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F-B
仕様・特徴
・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・Cold FEG
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー

200kV電界放出形透過電子顕微鏡 (200kV field emission transmission electron microscope)

設備ID
NM-503
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
200kV電界放出形透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F1
仕様・特徴
・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
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