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"二次イオン質量分析 （SIMS）(TOF,磁場など）"で検索した結果 4件
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飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS))
- 設備ID
- NM-205
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
- 型番
- PHI TRIFT V nanoTOF
- 仕様・特徴
- ・全二次イオンの同時測定が可能
・二次イオン・イメージング法：投影モード、操作モード
・Biクラスター・イオン・ビーム搭載
超微量元素計測システム(SIMS) (SIMS)
- 設備ID
- UT-306
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- カメカ (Cameca)
- 型番
- NanoSIMS 50L
- 仕様・特徴
- □主な用途
微小領域の分析、高空間分解能でのイメージング分析に優れた二次イオン質量分析装置。
□主な用途
・ 一次イオン源：セシウムおよび酸素
・最小ビーム径：50nm （セシウム）
・質量分析計：高性能二重収束型質量分析計
・高感度、高質量分解能での元素・同位体測定が可能。
・最大7種類の二次イオン像の同時検出ができる
表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)
- 設備ID
- KU-503
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments )
- 型番
- Spectra-Physics
- 仕様・特徴
- ・検出器：STREAK SCOPE C4334（浜松ホトニクス）/検出器：光電子増倍管（浜松ホトニクス）ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社) 励起パルス幅：1.5 ps、励起波長：400 nm付近、偏光オプション付き,測定範囲：1500～4000 cm-1
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer)
- 設備ID
- NI-011
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- PHI TRIFTV nano TOF
- 仕様・特徴
- 質量分解能：9000M/Δm以上
スペクトル測定およびマッピング、深さ分析
サンプルの大気非暴露測定可
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