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汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)

設備ID
KU-019
設置機関
九州大学
設備画像
汎用電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F
仕様・特徴
組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機

マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)

設備ID
KU-003
設置機関
九州大学
設備画像
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置
メーカー名
日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
型番
Zeiss-ULTRA55 + SII-TES
仕様・特徴
超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析(10eV@6KeV)、SDD(150mm2)検出器による組成・状態分析

X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscope)

設備ID
HK-201
設置機関
北海道大学
設備画像
X線光電子分光装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JPS-9200
仕様・特徴
標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30μmφ~3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い

オージェ電子分光装置 (Auger electron spectroscope)

設備ID
HK-202
設置機関
北海道大学
設備画像
オージェ電子分光装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JAMP-9500F
仕様・特徴
加速電圧:0.5~30kV、プローブ電流:10-11~2×10-7A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定(TSLソリューションズ ORION検出器)
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging

陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA) (Positron Probe MicroAnalyzer (PPMA))

設備ID
AT-501
設置機関
産業技術総合研究所(AIST)
設備画像
陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA)
メーカー名
産総研自主開発 (AIST Original)
型番
仕様・特徴
電子の反粒子である陽電子のマイクロビームを作り、物質中の陽電子寿命のマッピング測定を行う装置。
原子が1個抜けた原子空孔、ナノボイドのサイズ、分布の評価が可能。
・陽電子源 : 電子加速器対生成方式
・陽電子ビーム径 : 0.01 mm ~ 10 mm
・陽電子ビームエネルギー : 1-30 keV
・寿命測定時間分解能 : 200-300 ps

高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 (Surface Area and Pore Size Distribution Analyzer)

設備ID
NI-013
設置機関
名古屋工業大学
設備画像
高精度ガス/蒸気吸着量測定装置
メーカー名
日本ベル (MicrotracBEL)
型番
BELSORP-max
仕様・特徴
細孔分布:直径0.35~500nm
最小比表面積:0.01m2/g(N2

放射光メスバウアー分光装置 (Synchrotron radiation Mössbauer spectrometer)

設備ID
QS-111
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
設備画像
放射光メスバウアー分光装置
メーカー名
神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
型番
なし(特別仕様)
仕様・特徴
・物質・材料の磁性および電子状態や格子振動を顕微観察できる、超高輝度なγ線を利用して、鉄のメスバウアー分光を行う装置。
・微小試料や薄膜、更には、斜入射法や同位体置換試料を利用することで、金属薄膜の表面・界面部を1原子層毎に磁気探査することが可能。
・スピントロニクス・磁性材料研究をサポート。
・鉄以外にニッケルを対象元素とした観察が可能。それ以外の元素については要相談。
・内部転換電子メスバウアー測定による、固体試料の非破壊分析が可能。
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