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電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) (Electron Probe Micro Analyzer)

設備ID
MS-236
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
設備画像
電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JXA-8230 SS-94000SXES 軟X線分光器搭載
仕様・特徴
50 eVまでの低エネルギーを測定できる軟X線分光器(SXES)を搭載。

表面プラズモン共鳴装置 (Surface plasmon resonance (SPR) instrument)

設備ID
NM-007
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
表面プラズモン共鳴装置
メーカー名
サイティバ (Cytiva)
型番
Biacore X100
仕様・特徴
・非標識で分子間相互作用解析が可能。
・ベースラインノイズ:<0.1 RU (RMS)
・フローセル容量:0.06 µL
・データ取得間隔:1 Hz
・測定温度:25℃(固定)
・オートサンプラー:最大15サンプル

飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS))

設備ID
NM-205
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
飛行時間型二次イオン質量分析装置
メーカー名
アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
型番
PHI TRIFT V nanoTOF
仕様・特徴
・全二次イオンの同時測定が可能
・二次イオン・イメージング法:投影モード、操作モード
・Biクラスター・イオン・ビーム搭載

電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置 (Field Emission Electron Probe Micro-Analyzer (FE-EPMA))

設備ID
NM-207
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JXA-8500F
仕様・特徴
・電界放出形電子銃
・加速電圧:1~30 kV
・照射電流:10 pA ~500 nA
・測定可能元素:Be~U
・最大試料サイズ:100 x 100 x 20 mm

超微量元素計測システム(SIMS) (SIMS)

設備ID
UT-306
設置機関
東京大学
設備画像
超微量元素計測システム(SIMS)
メーカー名
カメカ (Cameca)
型番
NanoSIMS 50L
仕様・特徴
□主な用途
微小領域の分析、高空間分解能でのイメージング分析に優れた二次イオン質量分析装置。
□主な用途
・ 一次イオン源:セシウムおよび酸素
・最小ビーム径:50nm (セシウム)
・質量分析計:高性能二重収束型質量分析計
・高感度、高質量分解能での元素・同位体測定が可能。
・最大7種類の二次イオン像の同時検出ができる

マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)

設備ID
KU-003
設置機関
九州大学
設備画像
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置
メーカー名
日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
型番
Zeiss-ULTRA55 + SII-TES
仕様・特徴
超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析

表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)

設備ID
KU-503
設置機関
九州大学
設備画像
表面・界面分子振動解析装置
メーカー名
東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments )
型番
Spectra-Physics
仕様・特徴
・検出器:STREAK SCOPE C4334(浜松ホトニクス)/検出器:光電子増倍管(浜松ホトニクス)ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社) 励起パルス幅:1.5 ps、励起波長:400 nm付近、偏光オプション付き,測定範囲:1500~4000 cm-1

X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscope)

設備ID
HK-201
設置機関
北海道大学
設備画像
X線光電子分光装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JPS-9200
仕様・特徴
標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30μmφ~3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い

オージェ電子分光装置 (Auger electron spectroscope)

設備ID
HK-202
設置機関
北海道大学
設備画像
オージェ電子分光装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JAMP-9500F
仕様・特徴
加速電圧:0.5~30kV、プローブ電流:10-11~2×10-7A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定(TSLソリューションズ ORION検出器)
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging

電界放出形電子プローブマイクロアナライザー (Field emission electron probe micro analyzer (FE-EPMA))

設備ID
HK-303
設置機関
北海道大学
設備画像
電界放出形電子プローブマイクロアナライザー
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JXA-8530F
仕様・特徴
加速電圧:1~30kV
分析機能:WDS
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