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"機械特性"で検索した結果 10件
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テクスチャーアナライザー (Texture analyzer)
- 設備ID
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 英弘精機 (EKO Instruments)
- 型番
- TA-XT2i
- 仕様・特徴
- ・ロードセル容量・分解能：50kg±1g、5kg±0.1g
・距離設定：0.1mm～250mm
・距離分解能：0.0025mm
・スピード設定：0.1mm/s～10mm/s
・測定モード：圧縮または引張による荷重測定または距離測定
薄膜応力測定装置 [FLX-2000-A] (Thin-Film Stress Tester [FLX-2000-A])
- 設備ID
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![薄膜応力測定装置 [FLX-2000-A]](data/facility_item/NM-628.jpg)
- メーカー名
- 東朋テクノロジー (Toho Technology)
- 型番
- FLX-2000-A
- 仕様・特徴
- ・用途：薄膜応力測定
・測定方式：レーザースキャン方式（670nm＆750nm半導体レーザー）
・測定範囲：1～4000MPa
・測定再現性：1.3MPa（1σ）
・試料サイズ：φ3inch, φ6inch, φ8inch
・その他：3Dマッピング機能
直線集束ビーム超音波材料解析システム#1 (Line-focus-beam acoustic microscope #1)
- 設備ID
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリジナル (Original)
- 型番
- -
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～6インチ
東北大学名誉教授 櫛引淳一 先生が開発した装置
直線集束ビーム超音波材料解析システム#2 (Line-focus-beam acoustic microscope #2 )
- 設備ID
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリジナル (Original)
- 型番
- -
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～8インチ
東北大学名誉教授 櫛引淳一先生が開発した装置
形状・膜厚・電気特性評価装置群 (Series of analysis equipments, visual, thickness, and electrical/mechanical characteristic.)
- 設備ID
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- キーエンス ブルカー 東朋テクノロジー ズースマイクロテック 日本分光 オリンパス (Keyence BRUKER Toho Technology SUSS MicroTec JASCO Olympus)
- 型番
- VHX-6000 DektakXT Tohospec3100 Suss8”プローバ M-550 LEXT OLS5000
- 仕様・特徴
- 枝番1：顕微鏡
枝番2：触針段差計
枝番3：光干渉式膜厚測定装置
枝番4：Suss8”プローバ,針を当てて電気的特性を測定する装置。8インチ対応。
枝番5：分光エリプソメータ―
枝番6：レーザー顕微鏡
機械特性評価装置 (MSA-500 Micro System Analyzer)
- 設備ID
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ポリテック (Polyltec)
- 型番
- MSA-500
- 仕様・特徴
- Polytec 振動解析装置
MEMS機構の振動解析を行う装置です。XY方向はストロボスコープ（1MHz）、Z方向はレーザードップラー振動計（1.5MHz）またはレーザ変位計（24MHz）にて測定可能です。
測定した結果をアニメーションにして表示できるので解析に最適です。
力学試験機 (Universal Testing Machine)
- 設備ID
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東洋精機製作所㈱ (Toyoseiki)
- 型番
- T-D
- 仕様・特徴
- 引っ張り、曲げ試験などの力学物性評価を行う。
クロスヘッド速度 0.5～500mm/min、恒温槽：室温〜200℃
触針式段差計 (Stylus Profiler)
- 設備ID
- 設置機関
- 早稲田大学
- 設備画像
- メーカー名
- ケーエルエー・テンコール株式会社 (KLA Corporation. )
- 型番
- プロファイラーP-15
- 仕様・特徴
- 試料サイズ150mm
3D表面形状測定器
基板サイズ ～6
ナノインデンター (Nanoindenter)
- 設備ID
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- ハイジトロン (Hysitron)
- 型番
- TI-950
- 仕様・特徴
- 最大荷重10mN,分解能1nN, 最大変位15nm
特型走査電子顕微鏡装置 (Scanning Electron Microscope)
- 設備ID
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM5600＋特型試料ステージ
- 仕様・特徴
- WフィラメントSEM。ピエゾ駆動探針装備。電気・機械特性測定、その場抵抗加熱可能。
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