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(仮称)高輝度・高感度型単結晶構造解析装置 ()

設備ID
NM-201
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
(仮称)高輝度・高感度型単結晶構造解析装置
メーカー名
リガク(想定) (Rigaku Corporation(想定))
型番
仕様・特徴

高輝度・高感度型粉末X線回折装置 (High-power and high-sensitivity type powder X-ray diffractometer)

設備ID
NM-204
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
高輝度・高感度型粉末X線回折装置
メーカー名
(株)リガク (Rigaku Corporation)
型番
SmartLab 9 kW
仕様・特徴
・温度可変(1773 K ~ RT、873 K ~ 100 K、RT ~ 2.6 K )
・雰囲気制御可能(Air、N2、O2、Ar、He、TMPレベル真空)
・引っ張り試験機(最大:5 N)
・α-β-γ軸付きゴニオメーター

広空間・高分解能分析電子顕微鏡 (Analytical transmission electron microscope)

設備ID
NM-301
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
広空間・高分解能分析電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM300F
仕様・特徴
金属・セラミックス試料の組成,化学状態,結晶方位等の局所分析およびマップ取得が可能.
・加速電圧:300kV, 200kV, 120kV, 80kV
・球面収差補正(イメージおよびプローブのダブルコレクタ)
・大口径EDS検出器(158mm2 x 2本)
・エネルギーフィルター(Gatan ContinuumER)
・プリセッション電子回折を用いた結晶方位測定システム(ASTAR)

300kV収差補正電子顕微鏡 (Analytical apparatus for electron beam sensitive materials)

設備ID
NM-401
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
300kV収差補正電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL )
型番
JEM-ARM300F
仕様・特徴
・加速電圧 60, 80, 300kV
・TEM非線形情報限界 60pm
・TEM格子分解能 50pm
・STEM空間分解能 58pm
・CMOSカメラ 動画撮影機能搭載
・デュアルEDS検出器 合計立体角1.2Sr
・EELS エネルギー分解能0.7eV

単原子分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope)

設備ID
NM-402
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
単原子分析電子顕微鏡
メーカー名
日本エフイー・アイ (FEI)
型番
FEI Titan Cubed
仕様・特徴
・加速電圧80kV-300kV
・分解能70pm (300kV)
・エネルギー分解能80meV (80kV)
・ダブルコレクター
・モノクロメータ

マイクロX線CT (Micro X-ray CT)

設備ID
TU-313
設置機関
東北大学
設備画像
マイクロX線CT
メーカー名
コムスキャンテクノ (Comscantecno)
型番
ScanXmate D160TS110
仕様・特徴
サンプルサイズ:小片~6インチ
小さいサンプルの方が拡大率が大きくなり分解能向上

XRD (XRD)

設備ID
TU-323
設置機関
東北大学
設備画像
XRD
メーカー名
ブルカー・エイエックスエス (Bruker)
型番
D8 DISCOVER
仕様・特徴
サンプルサイズ:小片~6インチ

単結晶X線構造解析装置【地震により故障、装置更新中】 (Single Crystal X-ray Diffractometer)

設備ID
TU-606
設置機関
東北大学
設備画像
単結晶X線構造解析装置【地震により故障、装置更新中】
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
VariMax with RAPID
仕様・特徴
・型式:回転対陰極方式
・最大定格出力:1.2 kW(40 kV, 30 mA)
・ターゲット:2色管球 Cu/Mo
・X線光学系:集光型人工多層膜 集光ミラー
・ゴニオメーター:χ軸;-5°~+55°、2θ軸測角範囲;-60°~+144°
・検出器:IP、検出面積;460 mm×256 mm、ダイナミックレンジ;1×106(photon/pixel at Cu)

単結晶X線構造解析装置【地震により故障、装置更新中】 (Single Crystal X-ray Diffractometer)

設備ID
TU-607
設置機関
東北大学
設備画像
単結晶X線構造解析装置【地震により故障、装置更新中】
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
SMART APEX II Ultra
仕様・特徴
・型式:回転対陰極方式
・最大定格出力:2.5 kW(50 kV, 50 mA)
・ターゲット:Cu
・X線光学系:集光型人工多層膜 集光ミラー
・ゴニオメーター:χ軸;57.74°に固定、2θ軸測角範囲;-100°~+100°
・検出器:CCD、検出面積;61 mm×61 mm、感度;80 electron/X-ray photon (Cu Kα)

原子分解能元素マッピング構造解析装置 ( Atomic resolution element mapping structure analyzer)

設備ID
UT-005
設置機関
東京大学
設備画像
原子分解能元素マッピング構造解析装置
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番
JEM-ARM200F Thermal FE STEM
仕様・特徴
□ 主な仕様
・ 分解能:STEM明視野格子像 0.136nm
STEM暗視野格子像 0.082nm
TEM格子像 0.10nm
TEM粒子像 0.19nm
・ 倍率: STEM像 200~150,000,000倍
TEM像 50~2,000,000倍
・ 収差補正装置:照射系球面収差補正装置 組み込み
・ 検出器:エネルギー分散形X線分析装置 (SDD)、電子線エネルギー損失分光器(EELS)、
軽元素対応像検出器、CCD検出器(2k×2k,4k×2k)
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