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XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)

メーカー名
専用装置(独自開発) ((original))
型番
専用装置(独自開発)
設備画像
XAFS/SAXS計測ビームライン
設置機関
九州大学
仕様・特徴
高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線

超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置 (SC-XAFS) (X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy with a Superconducting Fluorescence Detector (SC-XAFS))

メーカー名
産総研自主開発 (AIST Original)
型番
設備画像
超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置 (SC-XAFS)
設置機関
産業技術総合研究所(AIST)
仕様・特徴
エネルギー分散超伝導検出器を搭載し、母材中の微量軽元素や重い元素のL、M線のX線吸収微細構造測定により、特定の微量元素の原子スケール構造解析を行う。省エネ半導体ドーパント、酸化物、磁性体などの原子配位や電子状態を評価する。
・蛍光X線エネルギー分解能 : 10 eV
・エネルギー範囲 : 70eV-5000eV(<1keV:超伝導、> 2keV:半導体)
・アレイ検出器素子数 :100
・光子計数率 : 1 Mcps
・冷却 : 液体ヘリウムを使用せず機械式冷凍機による自動冷却(0.3K)

X線磁気円二色性分光 (X-ray magnetic circular dichroic spectroscopy)

メーカー名
JANIS (JANIS)
型番
7THM-SOM-UHV
設備画像
X線磁気円二色性分光
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
仕様・特徴
UVSOR-III BL4B (100-1000eV円偏光)
超伝導磁石はJANIS社製7THM-SOM-UHV (±7T, 5K)、
試料作製槽 LEED/AES, 蒸着などを装備

表面化学実験ステーション (Surface chemistry experimental apparatus)

メーカー名
オミクロン (Omicron)
型番
EA125
設備画像
表面化学実験ステーション
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
表面界面の電子状態の精密分析や時分割観察が可能
・高輝度・高エネルギー分解能高輝度軟X線放射光(400~1500eV)
・複合表面分析(LEED、Arスパッター、SPM、蒸着(実績:Hf、Ge、Cs、Auなど)
・超高真空(2×10-8Pa)~ガス雰囲気(2×10-3Pa)
室温~1150℃加熱中の光電子分光観察
・材料プロセスの時分割観察、超音速分子線を使った反応ダイナミクス
・測定試料:半導体(Si、Ge、SiC、GaN etc)、金属(Cu、Ni、各種合金)、グラフェン等の新材料、ナノ粒子、機能物質など。単結晶、多結晶、アモルファス、薄膜
・導入ガス:酸素、水素、水、ギ酸、一酸化窒素、、メタン、エタン、塩化メチル、NO2、COなど

軟X線磁気円二色性測定装置 (Soft X-ray magnetic circular dichroism apparatus)

メーカー名
カスタム (Home-made)
型番
なし
設備画像
軟X線磁気円二色性測定装置
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
強磁性体などの特定元素の磁気モーメントを検出可能
・光エネルギー:390~2000 eV
・印可可能磁場:±10テスラ
・磁場掃引速度:1テスラ/分
・測定試料温度:6K~室温
・磁気モーメントの測定下限:10-3ボーア磁子/原子
・左右円偏光連続高速反転(1Hz)によりS/N比の高いデータ取得可能

高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station)

メーカー名
カスタム (Home-made)
型番
なし
設備画像
高輝度放射光XAFSシステム
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
試料中の特定元素の原子価や局所構造を決定
・エネルギー範囲:4~72keV
・測定方法:通常の透過法/微量元素用の蛍光法、通常のStepScan/高速計測対応(QuickScan)
・試料:国際規制物資、RI・アクチノイド試料可
・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能
・クライオスタットによる低温測定

応力・イメージング測定装置 (The apparatus for imaging and measuring material stress)

メーカー名
浜松ホトニクス 米倉製作所 DEBEN  (Hamamatsu Photonics K.K. YONEKURA MFG. Co., Ltd. DEBEN)
型番
M11427-43 CT5000
設備画像
応力・イメージング測定装置
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
金属材料などの変形中の応力評価やイメージングが可能
【応力・ひずみ】
・時間分解能:最大100Hz
・ひずみ精度:0.01%(応力精度:30MPa@鉄鋼材料)
・空間分解能:最小5μm
・侵入深さ:10mm@鉄鋼材料、50mm@アルミニウム合金
・負荷中、高温中での計測が可能
【イメージング】
・時間分解能:最大1000Hz
・空間分解能:最小3μm
・試料サイズ:φ4mm
・CT計測が可能(最小時間約5分)
・負荷中での計測が可能
〇上述2つの測定を併用することが可能
〇レーザー等の持ち込み装置を利用したその場時分割計測が可能

カッパ型多軸回折計 (κ-type X-ray diffractometer)

メーカー名
ニューポート (Newport)
型番
特注
設備画像
カッパ型多軸回折計
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
通常の回折計のような6軸に加え回転軸を持ち表面の構造解析も可能
・長い2thetaアーム(による高分解能性
・堅牢な回折計
・広いオープンスペースによる試料選択の柔軟性
・試料温度:10-1000K
・試料:固体(誘電体、非晶質)や薄膜
・電気化学同時測定

エネルギー分散型XAFS装置 (Energy-dispersive XAFS measuring station)

メーカー名
カスタム (Home-made)
型番
なし
設備画像
エネルギー分散型XAFS装置
設置機関
日本原子力研究開発機構(JAEA)
仕様・特徴
元素の局所構造・電子状態を時間分解観測
・観測可能元素:Ti以上
・温度:20-1000 K
・測定レート:最大100 Hz
・ガスフロー制御システムあり
・ポテンシオスタットによる電気化学測定可能

放射光メスバウアー分光装置 (Synchrotron radiation Mössbauer spectrometer)

メーカー名
神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
型番
なし(特別仕様)
設備画像
放射光メスバウアー分光装置
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
仕様・特徴
57Fe, 61Ni等のメスバウアー核種を対象とした放射光メスバウアー分光が可能で、物質の電子・磁気状態や格子振動状態に関する情報を得る事ができる。更に、斜入射法や同位体置換試料を利用する事で、金属薄膜の表面部を原子層の深さ分解能で測定する事も可能である。
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