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高分子相構造解析システム (Polymer Phase Structure Analyzing system)

設備ID
YG-011
設置機関
山形大学
設備画像
高分子相構造解析システム
メーカー名
大塚電子 エビデント ライカ (Otsuka Electronics Evident Leica)
型番
PP-1000 BX53LED-33P-OC-D Multicut R
仕様・特徴
1. 小角散乱装置
小角光散乱により短時間でサブミクロン~数百ミクロンの高分子やフィルムの構造を評価できる。加熱冷却ステージ付で温度による構造変化をリアルタイム測定可能。
システムで総合的に評価。
・ポリマーブレンドの相分離過程
・ポリマーの結晶化過程
2.偏光観察用システム顕微鏡
無限遠補正UIS2光学系と偏光特性を考慮した光学系により偏光観察、レタデーション測定が可能。高解像度、高コントラストの画像提供
3. ミクロトーム
2段階のトリミング機能(50、10ミクロン)による素早い面出しと正確な試料送り機構による、正確な厚みの切片を作成可能。タングステンブレード、ダイヤモンドナイフを用いる。
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