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多元DC/RFスパッタ装置 (Multi-target DC/RF sputtering system)

設備ID
OS-113
設置機関
大阪大学
設備画像
多元DC/RFスパッタ装置
メーカー名
キャノンアネルバ (CANON ANELVA)
型番
EB1100
仕様・特徴
【特徴】
スパッタチャンバー室、ロードロック室を備えた2室構造の平行平板型スパッタ装置。10nm以下の成膜が可能。真空を破らずに基板-ターゲット間距離を100~300mmの範囲で変更でき、搬送から成膜まで自動制御できるシステムを備える。
【仕様】
Au, Pt, Cr成膜用
ターゲット基板間距離100~300mm可変
全自動(排気、搬送、成膜)
最大200mm基板対応可能

RFスパッタ成膜装置(金属成膜用) (RF sputtering system (metal))

設備ID
OS-114
設置機関
大阪大学
設備画像
RFスパッタ成膜装置(金属成膜用)
メーカー名
サンユー電子 (Sanyu Electron)
型番
SVC-700LRF
仕様・特徴
【特徴】
Ti, Cr, W, Au, Pt等の金属のスパッタリングによる成膜が可能。TS間距離が400mmあるので、サンプル表面を均一にスパッタ加工したいユーザーに最適。
【仕様】
試料サイズ:max 4 inch

RFスパッタ成膜装置(絶縁体成膜用) (RF sputtering system (oxide))

設備ID
OS-115
設置機関
大阪大学
設備画像
RFスパッタ成膜装置(絶縁体成膜用)
メーカー名
サンユー電子 (Sanyu Electron)
型番
SVC-700LRF
仕様・特徴
【特徴】
SiO2, Al2O3等の絶縁体のスパッタリングによる成膜が可能
【仕様】
試料サイズ:max 4 inch

誘導結合型RFプラズマ支援スパッタ装置(ICP-RFスパッタ装置) (RF-Sputtering System with Inductively Coupled Plasma )

設備ID
OS-116
設置機関
大阪大学
設備画像
誘導結合型RFプラズマ支援スパッタ装置(ICP-RFスパッタ装置)
メーカー名
株式会社アルバック (ULVAC, Inc.)
型番
MB02-5002
仕様・特徴
【特徴】
誘導結合型RFプラズマ支援ヘリコン型スパッタ装置です。
隔膜式真空計を備えており、プロセスガス圧の高度な制御が可能です。
【仕様】
ターゲットサイズ:2inch
利用可能なターゲット:Au,Pt,Al2O3,SiO2,ITOなど(使用ごとに交換必要)
プロセスガス:Ar,O2
基板加熱温度:800℃
ターゲット基板間距離:200mm

EB蒸着装置 (EB deposition system)

設備ID
OS-117
設置機関
大阪大学
設備画像
EB蒸着装置
メーカー名
アルバック  (ULVAC)
型番
UEP-2000 OT-H/C
仕様・特徴
【特徴】
蒸発源として電子ビームを用いることで、蒸発させにくいPt, Au, Ni, Tiなどの金属薄膜の形成が可能。微細構造作製のため基板への斜入射蒸着が可能で、基板の冷却および加熱機能を備える。
【仕様】
高真空中で一度に4種類の金属薄膜形成が可能
試料サイズ:max 4 inch

自動制御型パルスレーザ蒸着ナノマテリアル合成装置 (Automatic pulsed laser deposition nano-materials synthesis system)

設備ID
OS-119
設置機関
大阪大学
設備画像
自動制御型パルスレーザ蒸着ナノマテリアル合成装置
メーカー名
株式会社パスカル (Pascal Co.,Lid.)
型番
MC-LMBE
仕様・特徴
【特徴】
スキャニングRHEEDと2つのコンビナトリアルマスクを用いて、成長を原子レベルで制御しながら、一枚の基板上に異なる条件の試料を一括作製することが可能です。
【仕様】
レーザー波長:193nm(ArF)
レーザー周波数、エネルギー:1~20Hz、最大240mJ
試料サイズ:10mm×10mm
真空度:10-7Pa台
雰囲気ガス:O2(0.02~20Pa)
基板加熱温度:1200℃
RHEED最大加速電圧:30kV

表面X線回折計 (Surface X-ray diffractometer)

設備ID
QS-113
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
設備画像
表面X線回折計
メーカー名
神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
型番
なし(特別仕様)
仕様・特徴
・半導体ヘテロ構造や多層膜、半導体量子ドット結晶やナノワイヤなどの成長過程について、原子が一層づつ積み上がってゆく様子を、表面X線回折法によってリアルタイム観察できる装置。
・原子状窒素を利用する分子線エピタキシー法により、GaNやInNなどの窒化物半導体の成長を行うことができる。
・良質な電子材料の作成をサポート。

スピンコータ (Spin Coater)

設備ID
RO-121
設置機関
広島大学
設備画像
スピンコータ
メーカー名
タツモ(株) (TAZMO)
型番
仕様・特徴
対応wafer:2inch、cut wafer
レジスト塗布

LPCVD装置(poly-Si用) (Low-pressure chemical vapor deposition (CVD) reactor for poly-Si deposition)

設備ID
RO-311
設置機関
広島大学
設備画像
LPCVD装置(poly-Si用)
メーカー名
東京エレクトロン (Tokyo Electron)
型番
仕様・特徴
対応wafer:2inch、cut wafer
モノシランの熱分解、650℃

LPCVD装置(SiN用) (Low-pressure CVD reactor for SiN deposition)

設備ID
RO-312
設置機関
広島大学
設備画像
LPCVD装置(SiN用)
メーカー名
東京エレクトロン (Tokyo Electron)
型番
仕様・特徴
対応wafer:2inch、cut wafer
ジクロルシランとアンモニアの反応、基板温度750℃
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