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"その他"で検索した結果 2件
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ウェハゴミ検査装置 (Wafer dust counter)
- 設備ID
- TU-301
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- トプコン (Topcon)
- 型番
- WM-3
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～6インチ
カセットtoカセット
屈折率測定装置（プリズムカプラ） (Refractometer (Prism Coupler))
- 設備ID
- CT-031
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- メトリコン (Metricon)
- 型番
- Model 2010/M
- 仕様・特徴
- ・光源波長：633nm（He-Neレーザー）
・屈折率精度：±0.0005
・透明バルクおよび透明フィルムの高精度屈折率
・膜厚と屈折率の同時計測（10～15ミクロン膜厚まで）
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