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"粒度分布測定（動的光散乱）"で検索した結果 9件
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ゼータ電位＆粒径測定装置（ELSZ-2000ZS） (Zeta-potential/Particle-size analyzer (ELSZ-2000ZS))
- 設備ID
- NM-218
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2000ZS
- 仕様・特徴
- ・粒径： 0.6 nm ～ 8 µm
・ゼータ電位： -200 ～ +200 mV
・試料濃度：0.00001～40％
・測定温度：0～90 ℃ (ガラスセル)、10～50 ℃ (ディスポセル)
動的光散乱光度計 (Dynamic light scattering (DLS) spectrophotometer)
- 設備ID
- NM-014
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- DLS-8000HAL
- 仕様・特徴
- ・粒径測定範囲：1.4nm～7µm
・重量平均分子量の測定範囲 ：300～2×107 Mw
・光源：He-Neレーザー(632.8nm)、固体ブルーレーザー(488nm)
・検出器：光電子増倍管（フォトンカウンティング方式）
・セル：21φ円筒セル、12φ円筒セル、5φ微量セル
・セル室温度：5～90℃
・角度範囲：5 ～ 160°
粒度分布測定装置 (Particle size analyzer)
- 設備ID
- NM-015
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (Shimadzu)
- 型番
- SALD-2100
- 仕様・特徴
- ・測定範囲：0.03µm～1000µm
・光源：680nm 半導体レーザー
・測定方式：湿式測定のみ（乾式測定不可）
動的光散乱（DLS） (Dynamic Light Scattering Analyzer (DLS))
- 設備ID
- NU-013
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Malvern社 (Malvern)
- 型番
- Zetasizer Nano ZS
- 仕様・特徴
- ・粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定
・測定可能粒径：0.6nm-6μm、ゼータ電位：5nm-10μm
・分子量：1000-2×107Da
・試料濃度：<10nm : 0.5g/l、10nm-100nm : 0.1mg/l、100nm-1μm : 0.01g/l、>1μm : 0.1g/l
・ゼータ電位：-200～200mV
・光学系：レーザードップラー法
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布） (Particle Size & Zeta-potential Analyzer)
- 設備ID
- NU-020
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2
- 仕様・特徴
- ・測定濃度範囲 ：0.001 % ～ 10 %
・ゼータ電位 ：-200 ～ 200 mV
・電気移動度 ：-20×10-4～20×10-4cm2/V・s
・粒子径 ：0.6 nm ～ 7000 nm
・温度 ：10～90 ℃
・測定可能サンプル：微粒子分散液
・平板試料用セル（オプション）を用いた平板
・フィルム状サンプル測定にも対応しています。
・pHタイトレーター装備
・光学系：レーザードップラー法
低誘電率セル購入済み
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Light Scattering Spectrophotometer)
- 設備ID
- KT-314
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
- 型番
- DLS-8000DH
- 仕様・特徴
- ・動的光散乱法
粒径分布、拡散係数分布を測定
・静的光散乱法
第二ビリアル係数・重量平均分子量・慣性半径の見積もり、重量平均分子量
・動的光散乱法：粒径分布、拡散係数分布測定
・静的光散乱法：第二ビリアル係数・重量平均分子量測定・慣性半径の見積もり
ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群 (Zeta-potential and particle analyzer system)
- 設備ID
- KU-513
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2
- 仕様・特徴
- 【ゼータ電位／粒径測定システム：ELSZ-2】
・粒子径測定範囲（0.6-7000nm）
・ゼータ電位測定範囲(-200-200mV)
・測定濃度範囲：粒径0.00001-40%
・ゼータ電位濃度範囲：0.001-40%
・(希薄、濃厚試料対応)
・温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応
・平板試料用セルを用いた基板・フィルムのゼータ電位測定可能
ナノ粒子解析装置（ゼーターサイザー） (Zetasizer)
- 設備ID
- OS-123
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- シスメックス株式会社（マルバーン） (SYSMEX CORPORATION (Malvern))
- 型番
- NANO-ZS
- 仕様・特徴
- 【特徴】
動的散乱光法により溶液中に分散された粒子の粒子径や、ゼータ電位測定が可能な装置です。
低濃度または高濃度サンプルにも対応可能です。
（濃度0.1ppm～40%/Wでの測定が可能）
【仕様】
必要試料量：70μL
粒子径測定：0.6nm～6μm（動的光散乱法）
ゼータ電位測定：3nm～10μm
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Laser Scattering Spectrometer)
- 設備ID
- NR-303
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electoronics)
- 型番
- DLS-6000
- 仕様・特徴
- ・角度可変
"粒度分布測定（動的光散乱）"で検索した結果 9件