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共用設備検索結果
"微小加工装置"で検索した結果 66件
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- 設備ID
- UT-403
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ライカバイオシステムズ㈱ (Leica Microsystems K.K.)
- 型番
- EM UC7
- 仕様・特徴
- □特 徴
・静電気式ピックアップ法
・視認性の高LED照明システム
・ユーセントリック動作を搭載した実体顕微鏡
- 設備ID
- NU-104
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- MI4000L
- 仕様・特徴
- FIB-SEM 直交配置
FIB, SEM, STEM, Ar Gun, EDS
FIB, SEM 最大加速電圧：30kV
- 設備ID
- NU-105
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- ETHOS NX5000
- 仕様・特徴
- FIB-SEM
FIB, SEM, STEM, Ar Gun, EDS
FIB, SEM 最大加速電圧：30kV
- 設備ID
- NU-106
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- ニューメタルズエンドケミカルス E.A. Fischione Instruments TECNOORG LINDA製 ライカマイクロシステムズ 日本電子 メイワフォーシス 日本電子 メイワフォーシス他 ()
- 型番
- Model1040 Gatan Model IV5 Leica EM UC7 IB-09020CP DWS3242 JCM-6000Plus Neoc-Pro/P
- 仕様・特徴
- TEM/STEM/SEM観察のための試料作製に関する装置群：
NanoMill PIPSⅡ GentlMill クライオミクロトーム クロスセクションポリッシャー ダイヤモンドワイヤーソー 卓上SEM コータ類
- 設備ID
- NU-253
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- JEOL (JEOL)
- 型番
- SM-09010
- 仕様・特徴
- ・イオン加速電圧：2～6 kV
・イオンビーム径：500 μm（半値幅）
・最大搭載試料サイズ：幅11 mm × 長さ10 mm × 厚さ2 mm
・試料移動範囲：X軸：±3 mm，Y軸：±3 mm
- 設備ID
- KT-206
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- エスアイアイ・ナノテクノロジー(株) (SII NanoTechnology Inc.)
- 型番
- NVision40PI
- 仕様・特徴
- 高性能FIBとFE-SEMのクロスビーム装置（各種分析機能付）。
・基板サイズ：MAX Φ30mm
・検出器：SE×2（インレンズSE、チャンバーSE）、反射電子（EsB）
・ガスインジェクションシステム：C、W、SiOx
・マイクロプロービングシステム
・EDX/EBSDインテグレーションシステム：EDAX Pegasus
・ピコインデンターシステム
- 設備ID
- KT-405
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- ライカ (Leica)
- 型番
- ULTRA CUT UCT
- 仕様・特徴
- 比較的柔らかい有機物などをダイヤモンドナイフで切削して薄片化し、電子顕微鏡試料を作製する装置。
・ステージ温度：室温、液体窒素温度
- 設備ID
- KU-005
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- FEI Quanta 200 3D
- 仕様・特徴
- 観察+FIB加工、マイクロサンプリング
- 設備ID
- KU-006
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech Corporation)
- 型番
- MI4000L
- 仕様・特徴
- 直交型FIB-SEM、3次元組織解析(3D-SEM/EDS)、EDS(150mm2 SDD検出器)による組成・状態分析
- 設備ID
- KU-011
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Scios DualBeam
- 仕様・特徴
- 3次元組織解析
"微小加工装置"で検索した結果 66件
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