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電顕試料用研磨機 (Grinder for TEM specimen preparation)
- 設備ID
- TU-509
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- handy lap HLA-2
- 仕様・特徴
- ・精密平行研磨可能
試料作製装置群 (Specimen preparation apparatus group)
- 設備ID
- NU-106
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- ニューメタルズエンドケミカルス E.A. Fischione Instruments TECNOORG LINDA製 ライカマイクロシステムズ 日本電子 メイワフォーシス 日本電子 メイワフォーシス他 ()
- 型番
- Model1040 Gatan Model IV5 Leica EM UC7 IB-09020CP DWS3242 JCM-6000Plus Neoc-Pro/P
- 仕様・特徴
- TEM/STEM/SEM観察のための試料作製に関する装置群：
NanoMill PIPSⅡ GentlMill クライオミクロトーム クロスセクションポリッシャー ダイヤモンドワイヤーソー 卓上SEM コータ類
原子分解能分析電子顕微鏡群 (Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope)
- 設備ID
- NI-001
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子/ガタン (JEOL/Gatan, Inc./Gatan, Inc.)
- 型番
- JEM-ARM200F/PIPS II/Model 656
- 仕様・特徴
- ●走査透過電子顕微鏡（JEM-ARM200F）
加速電圧：80kV・200kV，電子銃：冷陰極電界放出型
EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
●イオンミリング装置（PIPS II）
高精度で無機化合物、金属、複合材料などをAr+イオンにより研磨できる。イオン銃加速電圧：0.1～7kV 冷却ステージあり
●ディンプルグラインダー（Model 656）
イオンミリングの前処理として固体板状試料に3mmΦ以下のくぼみをつけることができる。
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