共用設備検索結果
Arイオン研磨装置群 (Sample milling / polishing facilities)
- 設備ID
- KU-014
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- Gatan、Fischione、日本電子 (Gatan、Fischione、JEOL)
- 型番
- Gatan PIPSⅡ M 695、Fischione NanoMill Model1040、JEOL ION SLICER EM-09100IS
- 仕様・特徴
- 電子顕微鏡試料の調製
精密イオン研磨装置 ( Precision ion polishing system)
- 設備ID
- HK-407
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- ガタン (Gatan)
- 型番
- PIPSII
- 仕様・特徴
- イオン加速電圧:1 ~ 6 kV
イオン入射角:最大±10°
液体窒素冷却装置
TVカメラ
断面試料作製装置(クロスセクションポリッシャ) (Specimen preparation equipment (CROSS SECTION POLISHER))
- 設備ID
- CT-014
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- IB-09010CP
- 仕様・特徴
- ・イオン加速電圧:2~6 kV
・イオンビーム径:500 μm
・ミリングスピード:100 μm/h
・最大搭載試料サイズ:11 mm(幅) x 10 mm(長さ) x 2 mm(厚さ)
・使用ガス:アルゴンガス
原子分解能分析電子顕微鏡群 (Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope)
- 設備ID
- NI-001
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子/ガタン (JEOL/Gatan, Inc./Gatan, Inc.)
- 型番
- JEM-ARM200F/PIPS II/Model 656
- 仕様・特徴
- ●走査透過電子顕微鏡(JEM-ARM200F)
加速電圧:80kV・200kV,電子銃:冷陰極電界放出型
EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
●イオンミリング装置(PIPS II)
高精度で無機化合物、金属、複合材料などをAr+イオンにより研磨できる。イオン銃加速電圧:0.1~7kV 冷却ステージあり
●ディンプルグラインダー(Model 656)
イオンミリングの前処理として固体板状試料に3mmΦ以下のくぼみをつけることができる。
材料系電子顕微鏡用試料作製装置群 (Material-Science TEM Sample Preparation Machines)
- 設備ID
- OS-007
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- アメテック株式会社 (AMETEK)
- 型番
- PIPS II
- 仕様・特徴
- 機械研摩装置、トライポッド、ディンプルグラインダー